詳情介紹：
TQC SP1100破壞性P.I.G干膜厚度測試儀，采用楔型切割法，只需要在涂層上切一個小口，借助LED照明顯微鏡測量網(wǎng)格測量切口，可以計算得到μm和mil的測試結(jié)果。
荷蘭TQC*，TQC SP1100破壞性P.I.G干膜厚度測試儀將切割*和測試顯微鏡合并在同一儀器中，可以使用在所有的基材上。不像常規(guī)的膜厚儀分磁性金屬和非磁性金屬底材，可適用所有底材上的涂層厚度測量。
TQC SP1100破壞性P.I.G干膜厚度測試儀符合ISO 2808/ASTM D 4138-0l/GB/T 13452.2等多種標準，操作簡單，使用方便。
TQC SP1100破壞性P.I.G干膜厚度測試儀特點
全基材均可以測量
便攜式設備，攜帶方便
配備LED照明50倍顯微鏡
評估測量涂層缺陷方便快捷
帶有雙尺度測量網(wǎng)線，讀數(shù)方便
TQC SP1100破壞性P.I.G干膜厚度測試儀技術(shù)參數(shù)
測量范圍:2 - 1800μm
分辨率:zui小2μm
顯微鏡:50倍帶刻度顯微鏡
電源:4節(jié)1.5V電池
材質(zhì):鋁鈦合金
尺寸:25×110×65mm
