PCB冷熱沖擊試驗箱助家電電器測試標(biāo)準(zhǔn)
　　主要生產(chǎn)產(chǎn)品：PCB冷熱沖擊試驗箱｛｝液壓振動臺,PCT高壓加速老化試驗機,振動試驗臺,紫外線老化試驗箱,中頻振動,鹽霧試驗箱,恒溫恒濕箱,氙燈老化試驗箱,高低溫低氣壓試驗機,高低溫濕熱循環(huán)測試儀,熱真空試驗設(shè)備,紫外光試驗箱,快速溫度變化試驗箱等更多非標(biāo)測試儀器
　　PCB冷熱沖擊試驗箱溫度調(diào)節(jié)范圍：
　　1、風(fēng)速有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定，進行環(huán)境試驗時溫濕箱內(nèi)的風(fēng)速應(yīng)小于1.7m/s，對于試驗本身來說，風(fēng)速越小越好，風(fēng)速過大會加速試驗件表面與箱體內(nèi)流動氣流的熱交換，于試驗的真實性不利。但為了保證試驗箱工作室內(nèi)的均勻性，試驗箱內(nèi)具有循環(huán)風(fēng)是必需的。但是快速溫度變化試驗箱以及溫度、濕度、振動等多因素綜合環(huán)境試驗箱，為追求變溫速率，必須加快箱體內(nèi)循環(huán)氣流的流速，風(fēng)速通常在2～3m/s。因此，對于不同的使用目的，風(fēng)速的限制是不一樣的。
　　2、溫度波動度溫度波動是一個比較容易實現(xiàn)的參數(shù)，所有環(huán)境試驗設(shè)備廠家生產(chǎn)的多數(shù)的試驗箱實際的溫度波動都可以控制在±0.3℃的范圍以內(nèi)。
　　溫度場均勻度為了更正確地模擬產(chǎn)品在自然界所遭受的實際環(huán)境狀況，在環(huán)境試驗中必須保證被試產(chǎn)品的周邊處在同一溫度環(huán)境條件下，為此，必須對試驗箱內(nèi)的溫度梯度和溫度的波動度加以限制。在國軍標(biāo)GJB150.1－86軍用設(shè)備環(huán)境試驗方法總則中明確規(guī)定“試驗樣品附近測量系統(tǒng)的溫度應(yīng)在試驗溫度的±2℃以內(nèi)，其溫度工不超過1℃/m或總的大值為2.2℃（試驗樣品不工作）”。
　　PCB冷熱沖擊試驗箱滿足試驗標(biāo)準(zhǔn)
　　GB/T2423.1-2001試驗A：低溫試驗方法
　　GB/T2423.2-2001試驗B：高溫試驗方法
　　GB/T2423.22-2002試驗N：溫度變化試驗方法試驗Na
　　GJB150.3-1986高溫試驗
　　GJB150.4-1986低溫試驗
　　GJB150.5-1986溫度沖擊試驗
　　（負載參見5.5.6，無有源熱負載）
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