通過低氣壓老化箱進(jìn)行的技術(shù)研究，將可以滿足端技術(shù)如宇航、電子、兵器等的發(fā)展對該試驗箱的需求。開展對該試驗箱的研制，可以*國內(nèi)對該產(chǎn)品的空白，擴(kuò)大公司對此種試驗箱的應(yīng)用市場，同時縮短國內(nèi)在該領(lǐng)域與國外的差距，盡早實現(xiàn)低氣壓老化箱的工業(yè)化生產(chǎn)。

      低氣壓試驗箱是測檢產(chǎn)品在高溫、低溫與低氣壓的環(huán)境下變化后參數(shù)的及性能。目前有關(guān)低氣壓試驗箱的低氣壓試驗的標(biāo)準(zhǔn)有：
GB2423.21-1991《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗M：低氣壓試驗方法》  
GB/T2423.25-1992《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/AM：低溫/低氣壓綜合試驗方法》  
GB/T2423.26-1992《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/BM：高溫/低氣壓綜合試驗方法》  
GB2423.27-2005《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/AMD：低溫/低氣壓/濕熱連續(xù)綜合試驗方法》  
GB/T2424.15-1992《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程溫度/低氣壓綜合試驗導(dǎo)則》 

      在GB/T2424.15-1992《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程溫度/低氣壓綜合試驗導(dǎo)則》中主要對溫度、低氣壓的適用范圍，綜合影響試驗設(shè)備等進(jìn)行了闡述。

      而在GB/T2423.25-1992《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/AM：低溫/低氣壓綜合試驗方法》GB/T2423.26-1992《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Z/BM：高溫/低氣壓綜合試驗方法》中對試驗方法，嚴(yán)酷等級、試驗?zāi)康模瑮l件試驗進(jìn)行了具體規(guī)范。

      艾思荔試驗設(shè)備有限公司是一家集科研、設(shè)計及制造各類模擬環(huán)境試驗設(shè)備的專業(yè)性企業(yè)。公司在競爭中不斷探索，不斷超越，從小到大，由弱到強(qiáng)。主要產(chǎn)品有恒溫恒濕、冷熱沖擊、跌落試驗機(jī)、振動試驗臺、鹽霧試驗機(jī)等設(shè)備。想了解更多設(shè)備的實驗意義及相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)，歡迎關(guān)注艾思荔儀器！