bowman鍍層膜厚儀 膜厚測試儀簡單地說螢光X射線裝置(XRF)和X射線衍射裝置(XRD)有何不同,螢光X射線裝置(XRF)能得到某物質中的元素信息（物質構成,組成和鍍層厚度）,X射線衍射裝置(XRD)能得到某物質中的結晶信息。
具體地說,比如用不同的裝置測定食鹽時,從螢光X射線裝置得到的信息為此物質由構成,而從X射線衍射裝置得到的信息為此物質由NaCl的結晶構成。單純地看也許會認為能知道結晶狀態(tài)的X射線衍射裝置(XRD)為好,但當測定含多種化合物的物質時只用衍射裝置(XRD)就很難判定,必須先用螢光X射線裝置(XRF)得到元素信息后才能進行定性。
膜厚儀也叫X射線測厚儀，它的原理是物質經(jīng)X射線或粒子射線照射后，由于吸收多余的能量而變成不穩(wěn)定的狀態(tài)。從不穩(wěn)定狀態(tài)要回到穩(wěn)定狀態(tài)，此物質必需將多余的能量釋放出來，而此時是以熒光或光的形態(tài)被釋放出來。熒光X射線鍍層厚度測量儀或成分分析儀的原理就是測量這被釋放出來的熒光的能量及強度，來進行定性和定量分析。
bowman鍍層膜厚儀 膜厚測試儀是一款設計緊湊靈活、功能強大的膜厚儀，可以滿足各個行業(yè)中對質量保證和過程控制的要求。
用*的X射線技術,可高效率低成本,小型的X-射線熒光光譜儀,操作簡易但功能強大,可分析元素由鋁(13)到鈾(92),并且具備視像顯微鏡及可測量小到ppm的范圍,即使是較大的測量樣品也可放在XY(Z)測量臺上，拾載的WinFTM v6軟件,使儀器可以在沒有標準片的情況下進行測量。
測量技術同行15年，在同測量領域風蚤，成為膜厚儀*，精準的數(shù)據(jù)，*的技術，嚴格的品質要求，可靠、可信、快速的服務，及一些專業(yè)意見與技術扶持，值得您的信賴。
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