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臺式x射線膜厚測試儀

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產品型號BA100

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更新時間：2018-05-15 14:49:59瀏覽次數：291次

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產品簡介

臺式x射線膜厚測試儀是一款設計緊湊靈活、功能強大的膜厚儀，可以滿足各個行業中對質量保證和過程控制的要求。

詳細介紹

臺式x射線膜厚測試儀x射線的原理是X射線和紫外線與紅外線一樣是一種電磁波。可視光線的波長為0.000001 m （1μm）左右。
對某物質進行X射線照射時,可以觀測到主要以下3種X射線。
（1）螢光X射線
（2）散亂X射線
（3）透過X射線
膜厚測試儀，分為手持式和臺式二種，手持式又有磁感應鍍層測厚儀，電渦流鍍層測厚儀，熒光X射線儀鍍層測厚儀。手持式的磁感應原理時，利用從測頭經過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小.來測定覆層厚度。也可以測定與之對應的磁阻的大小，來表示其覆層厚度。
臺式的熒光X射線膜厚測試儀，是通過一次X射線穿透金屬元素樣品時產生低能量的光子，俗稱為二次熒光，,在通過計算二次熒光的能量來計算厚度值。

臺式x射線膜厚測試儀是一款設計緊湊靈活、功能強大的膜厚儀，可以滿足各個行業中對質量保證和過程控制的要求。
用*的X射線技術,可高效率低成本,小型的X-射線熒光光譜儀,操作簡易但功能強大,可分析元素由鋁(13)到鈾(92),并且具備視像顯微鏡及可測量小到ppm的范圍,即使是較大的測量樣品也可放在XY(Z)測量臺上，拾載的WinFTM v6軟件,使儀器可以在沒有標準片的情況下進行測量。
測量技術同行15年，在同測量領域風蚤，成為膜厚儀*，精準的數據，*的技術，嚴格的品質要求，可靠、可信、快速的服務，及一些專業意見與技術扶持，值得您的信賴。

: 舒翠
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:     sc@kinglinhk.net
地址:     寶安區沙井北環大道110號新橋綜合大樓502

關鍵詞：測厚儀射線儀過程控制光譜儀顯微鏡