半導體膜厚測試儀

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更新時間：2018-05-15 15:25:54瀏覽次數(shù)：269次

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產品簡介

半導體膜厚測試儀* 儀器的特長：廣泛應用型可測元素：AL～U
* X射線管：小型空氣冷卻型高功率X射線管球（W靶）

詳細介紹

半導體膜厚測試儀2000年前后,國內電子、通信行業(yè)的迅猛發(fā)展,帶來電鍍行業(yè)的廣泛需求。應貿易和質量體系認證的需求,許多企業(yè)工廠紛紛購置了相關的鍍層厚度檢測儀器和設備,同時也帶來鍍層膜厚量值傳遞和溯源問題。當然,有些外資企業(yè),通過儀器自帶的標準器直接溯源到國外,而大部分企業(yè)部門,則處于自行封閉測量和不做量值溯源的狀況,國家沒有一個明確的量值傳遞體系,鍍層膜厚的量值處于一種混亂的狀態(tài)。
半導體膜厚測試儀由于X光測厚儀是在線測量儀表，檢測的厚度是鋼板熱態(tài)時的厚度，這樣會和冷態(tài)時的厚度有一定的偏差，所以就增加了溫度補償系數(shù)。使在線測量的數(shù)據(jù)與冷態(tài)時保持*。同樣如果軋制材質有變化時，也會給測量帶來誤差。這時只需將不同材質的樣板進行檢測，計算出合金補償系數(shù)，也可以使測量數(shù)據(jù)和實際材質厚度保持*。

* 儀器的特長：廣泛應用型可測元素：AL～U
* X射線管：小型空氣冷卻型高功率X射線管球（W靶）
* 管電壓：45kV
* 管電流：1mA Be
* 窗濾波器：一次濾波器：A1-
* 自動切換二次濾波器：Co-
* 自動切換檢測器：比例計數(shù)管
* 樣品觀察：CCD攝像機
* 對焦方式：激光自動對焦
* 測定軟件：世界上zui的FP法。數(shù)學計算測量方法 .
* 安全機能：測量室門自鎖功能 Z軸防沖撞功能儀器自診斷功能
* 儀器介紹：測量數(shù)據(jù)與Word和Excel鏈接自動生成報告和數(shù)據(jù)處理