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JKZT-10型鐵電材料參數測試儀適用于鐵電薄膜、鐵電體材料（既可塊體材料）的電性能測量，可測量鐵電薄膜電滯回線、I—V特性及開關特性，可地測出具有非對稱電滯回...

TDZT-4C型鐵電材料測試儀 是鐵電材料參數測試儀適用于鐵電薄膜、鐵電體材料（既可塊體材料）的電性能測量，可測量鐵電薄膜電滯回線、可精確地測出具有非對稱電滯回...

TDZT-04C 型鐵電性能綜合測試系統是最新一代鐵電材料參數測試儀適用于鐵電薄膜、鐵電體材料（既可塊體材料）的電性能測量，可測量鐵電薄膜電滯回線、I—V特性及...

FTTD-5000B型變溫鐵電測試儀是一款擴展靈活的變溫鐵電測試系統，也是一款可替代德國aixACCT公司生產的TF Analyzer 2000鐵電分析儀的國產...

ZJ-5型多層疊堆壓電測試儀是在原來的ZJ-4型準靜態D33測試儀的基礎發展起來的一款新的壓電測試儀，可以應用于各種 分立式疊堆壓電陶瓷， 高壓柱形疊堆壓電陶瓷...

ZJ-4BN型壓電薄膜D31測試儀（靜壓電系數d33測量儀）是為測量壓電材料的d33,D15塊體，D15圓管，D31薄膜系數常數而設計的專用儀器，它可用來測量具...

ZJ-3A/B/J型壓電測試儀（靜壓電系數d33測量儀）是為測量壓電材料的d33常數而設計的儀器，它可用來測量具有大壓電常數的壓電陶瓷，小壓電常數的壓電單晶及壓...

ZJ-3型壓電測試儀（靜壓電系數d33測量儀）是為測量壓電材料的d33常數而設計的專用儀器，它可用來測量具有大壓電常數的壓電陶瓷，小壓電常數的壓電單晶及壓電高分...

ZJ-6型壓電測試儀（準靜態d33/d31（+d15）測量儀）是為測量壓電材料的d33常數而設計的儀器，它可用來測量具有大壓電常數的壓電陶瓷，小壓電常數的壓電單...

GW-YDZK03A高溫壓壓電阻抗綜合測試系統是用于高溫壓電材料測試，主要是主要用于鐵電晶體、壓電陶瓷、壓電晶體、超聲波換能器等器件的高溫阻抗分析與測試，是對壓...

GWZK-03A高溫精密壓電阻抗分析測量系統是國內符合LXI標準的新一代高溫壓電阻抗測試儀器，其0.1%的基本精度、20Hz～5MHz的頻率范圍可以滿足元件與材...

HTCAS-300型高溫超導材料交流磁化率測量儀主要用于高溫超導材料交流磁化率及超導轉變溫度的測量。本裝置包括密閉的真空室、壓縮制冷機、真空泵、真空計、鎖相放大...

HTGSRM-1000高溫氣敏電阻測量系統主要用于測量電阻型氣體傳感器材料的氣敏特性，采用兩線或四線電阻測量原理設計開發。該系統采用外部控溫，使得氣敏元件測試擺...

GWJDN-800型四通道高低溫介電測量系統應用于高溫環境下材料、器件的導電、介電特性測量與分析，通過配置不同的測試設備，完成不同參數的測試。

HRIM-800型高溫壓力材料電阻率測試儀是一款用于高溫條件下，施加不同壓力測量材料電阻率的一款設備，該設備可以真空，高溫，壓力三功能條件下對應不同的電阻率曲線...

HTIM-1000高溫絕緣材料電阻率測試儀/GB-T10581-2006絕緣材料在高溫下電阻和電阻率主要用于評估測量絕緣材料電學性能，該系統采用三環電極法設計原...

HTRS-1000型高溫半導體材料電阻率測試儀主要用于半導體材料導電性能的評估和測試，該系統采用四線電阻法測量原理進行設計開發，可以在高溫、真空氣氛的條件下測量...

BMJD-400薄膜低溫介電測量系統低溫介電測量系統是一款科變溫測試設備，應用于低溫環境下材料、器件的導電、介電特性測量與分析，通過配置不同的測試設備，完成不同...

介電溫譜儀可測量陶瓷、薄膜、半導體等塊狀材料，可與WK6500系列、Agilent/keysight E4990A、同惠TH28系列阻抗分析儀集成使用，組成一套...

諧振腔法是一種重要的材料測量方法，具有廣泛的應用前景。隨著科技的不斷發展，諧振腔法將會在材料科學、電子工程、通信技術等領域發揮越來越重要的作用。XZQ-5000...