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X射線金屬鍍層測厚儀功能

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更新時間：2018-04-15 15:01:01瀏覽次數(shù)：243次

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產品簡介

韓國先鋒XRF-2000鍍層測厚儀
檢測電子電鍍,化學電鍍層厚度,
如鍍金,鍍鎳,鍍銅,鍍鉻,鎳鋅,鍍銀,鍍鈀,鍍錫...
可測單層,雙層,多層,合金鍍層,

詳細介紹

X射線膜厚分析儀是利用 XRF 原理來分析測量金屬厚度及物質成分，可用于材料的涂層 / 鍍層厚度、材料組成和貴金屬含量檢測。

電鍍鍍層行業(yè)中，電鍍鍍層厚度是產品的zui重要質量指標，X射線鍍層測厚儀是檢測電鍍層厚度*儀器。X射線鍍層測厚儀作為一種測量鍍層厚度的精密儀器，在整個電鍍層厚度品質檢測中占非常重要的地位。它在電鍍層厚度控制,品質是否達到要求,鍍層是否符合客戶要求及成本控制方面,X射線鍍層測厚儀均可完成。對于現(xiàn)代電鍍加工來來說，非接觸式X射線測厚儀作為一種常用的精密測量儀器，以其高精度和可靠性廣泛應用于電鍍行業(yè)鍍層檢測中

韓國XRF-2000X射線鍍層測厚儀

XRF-2000 系列分為以下三種：

1. H型: 密閉式樣品室，方便測量的樣品較大，高度約100mm以下。
2. L型:  密閉式樣品室，方便測量樣品較小，高度約30mm以下。
3. PCB型:  開放式樣品室，方便大面積的如大型電路板高度約30mm以下