一、什么是浪涌測(cè)試？

浪涌測(cè)試是EMS的一個(gè)測(cè)試項(xiàng)目，主要測(cè)試的是EUT對(duì)雷電產(chǎn)生的感應(yīng)電壓瞬變的抗擾度。因?yàn)樵贓UT的使用過程中，在發(fā)生雷電時(shí)，在電源線和信號(hào)線上可能會(huì)產(chǎn)生一個(gè)感應(yīng)的高峰電壓，這個(gè)電壓可能會(huì)導(dǎo)致EUT性能下降甚至損壞，浪涌測(cè)試是通過浪涌信號(hào)發(fā)生器模擬產(chǎn)生一個(gè)尖峰電壓，耦合到電源線和數(shù)據(jù)線上，觀察EUT在這么大的感應(yīng)電壓沖擊下是否能正常的工作。

二、浪涌測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 18595 《一般照明用設(shè)備電磁兼容抗擾度》

CISPR 14-2、EN 55014-2 《家用電器、電動(dòng)工具和類似器具的電磁兼容要求 第2部分：抗擾度》

GB/T 17626.5、IEC 61000-4-5、EN 61000-4-5 《電磁兼容 試驗(yàn)和測(cè)量技術(shù) 浪涌（沖擊）抗擾度試驗(yàn)》

三、浪涌測(cè)試如何選擇測(cè)試波形？

根據(jù)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定，浪涌測(cè)試主要的波形分別為1.2/50μs（8/20μs）組合波信號(hào)和10/700μs（5/320μs）組合波信號(hào)。

1. 對(duì)通訊網(wǎng)和長(zhǎng)距離信號(hào)電路端口，推薦采用10/700μs沖擊波。常見電子設(shè)備如RJ45，RS232, XDSL, RS485，安防攝像頭等。

2. 對(duì)交直流電源端口和短距離信號(hào)電路端口，推薦采用1.2/50μs沖擊波。常見電子設(shè)備如LED照明設(shè)備，基站等。

四、設(shè)備端口浪涌測(cè)試方法及要求

1. 交流電源口過電壓耐受水平

等級(jí)1：差模施加2kV電壓正負(fù)各5次無(wú)損壞，共模4kV電壓各5次無(wú)損壞；

測(cè)試波形：1.2/50μs（8/20μs）組合波；

測(cè)試方式：按照IEC61000-4-5。

2. 直流電源口過電壓耐受水平

等級(jí)1：差模施加1kV電壓正負(fù)各5次無(wú)損壞，共模2kV電壓各5次無(wú)損壞；

等級(jí)2：差模施加0.5kV電壓正負(fù)各5次無(wú)損壞，共模1kV電壓各5次無(wú)損壞；

測(cè)試波形：1.2/50μs（8/20μs）組合波；

測(cè)試方式：按照IEC61000-4-5，等級(jí)2為基本要求，若設(shè)備未配置防雷器情況，端口耐受等級(jí)要求應(yīng)達(dá)到等級(jí)1。

3. 信號(hào)口過電壓耐受水平（建筑內(nèi)信號(hào)線）

等級(jí)1：差模施加2kV電壓正負(fù)各5次無(wú)損壞，共模4kV電壓各5次無(wú)損壞；

等級(jí)2：差模施加1kV電壓正負(fù)各5次無(wú)損壞，共模2kV電壓各5次無(wú)損壞；

等級(jí)3：差模施加0.5kV電壓正負(fù)各5次無(wú)損壞，共模1kV電壓各5次無(wú)損壞；

測(cè)試波形：1.2/50μs（8/20μs）組合波；

測(cè)試方式：按照IEC61000-4-5，等級(jí)3為基本要求，若走線超過10m，不超過30m，未加防雷器情況，端口耐受等級(jí)要求應(yīng)達(dá)到等級(jí)1。

4. 信號(hào)口過電壓耐受水平（建筑外信號(hào)線）

等級(jí)1：差模施加4kV電壓正負(fù)各5次無(wú)損壞，共模4kV電壓各5次無(wú)損壞；

等級(jí)2：差模施加1kV電壓正負(fù)各5次無(wú)損壞，共模2kV電壓各5次無(wú)損壞；

測(cè)試波形：1.2/50μs（8/20μs）組合波；

測(cè)試方式：按照IEC61000-4-5，建筑外走線的信號(hào)電纜，進(jìn)入室內(nèi)應(yīng)先經(jīng)過配線架的一級(jí)保護(hù)；

測(cè)試端口的要求是：對(duì)設(shè)備端口自身測(cè)試，應(yīng)滿足等級(jí)2；在信號(hào)端口前連接配線架（帶一級(jí)保護(hù)單元），在配線架前測(cè)試，需滿足等級(jí)1。

五、Delta德爾塔儀器浪涌脈沖發(fā)生器（兩種脈沖信號(hào)規(guī)格）

1.250us脈沖試驗(yàn)信號(hào)發(fā)生器

 

1950S脈沖發(fā)生器