如何看待X熒光測厚儀的XRF定量分析
X熒光測厚儀是一款無損檢測儀器，可以快速準確的測試產品鍍層（鍍鋅、鍍鎳、鍍金、鍍銀、鍍錫等）厚度，基本沒有什么耗材，維護成本比較低，產品廣泛應用于電子電器、五金工具、鋁合金電鍍及貴金屬企業，打破了國外壟斷的局面，并且在市場上的占有率也逐步與國外抗衡，產品質量也得到了客戶的認可。
X熒光測厚技術可應用于電子設備的特殊集成電路和小整機的外殼，應該具有耐受各種惡劣環境的能力，并保護內部電路正常工作。根據原子的特征X射線探測該
元素特征X射線的存在與否，可以進行定性分析；其強度的大小可作定量分析。
鑒于高靈敏度和多用途的要求XRF定量分析多采用高功率的封閉式X射線管為激發源，配以晶體彼長色散法和率的正比計數器和閃爍計數器，并用計算機進行程序控制、基體校正和數據處理，具有準確度高、分析迅速的特點。
X射線熒光分析法是一種測量樣品產生的X射線熒光強度，然后與標準樣品的X射線強度進行對比的比較方法。許多X射線熒光測厚儀均帶有基本參數法分析軟件。軟件對多種分析對象都已經過標準合金樣品或純金屬樣品的校準與校正，有關參數已包括在其中，用戶無需制備標準樣品，即可直接進行分析。這種分析軟件稱為無標樣分析法。無點就是鍍涂層的厚度。
X射線熒光光譜法(XRF)屬于無損測試方法中的一種。X R F的基本原理是當來自X射線管具有足夠能量的初級X射線與試樣中的原子發生碰撞，并從該原子中逐出一個內層電子時，在此殼層就形成一個空穴，隨后由較外層的一個電子躍遷來填充此空穴；同時，發射出二次X射線光電子。x射線熒光分析是一種表面分析，其作用深度視元素分析線的波長而定。
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