時(shí)代TT220漆膜磁性涂層測(cè)厚儀使用說(shuō)明書(shū)
時(shí)代TT220漆膜磁性涂層測(cè)厚儀的基本測(cè)量步驟:
1.準(zhǔn)備好待測(cè)試件。
2.將測(cè)頭置于開(kāi)放空間，按一下“ON/C”鍵，開(kāi)機(jī)。
3.檢查電源,無(wú)“╪”顯示，表示電池電壓正常；“╪”出現(xiàn)，表示電池電壓已低落，應(yīng)充電；開(kāi)機(jī)后，出現(xiàn)“╪”并自動(dòng)關(guān)機(jī)，表示電池電壓已低限，應(yīng)立即充電。
4.正常情況下，開(kāi)機(jī)后顯示上次關(guān)機(jī)前的測(cè)量值。
5.是否需要校準(zhǔn)儀器，如果需要，選擇適當(dāng)?shù)男?zhǔn)方法進(jìn)行（參見(jiàn)第四章）。
6.測(cè)量
迅速將測(cè)頭與測(cè)試面垂直地接觸并輕輕壓住，隨著一聲?shū)Q響，屏幕顯示測(cè)量值，提起測(cè)頭可進(jìn)行下次測(cè)量；
如果在測(cè)量中測(cè)頭放置不穩(wěn)，顯示一個(gè)明顯的可疑值，可在“DEL ONE?”狀態(tài)刪除該值；
重復(fù)測(cè)量三次以上，在“DIS STATS?”狀態(tài)，可依次顯示五個(gè)統(tǒng)計(jì)值，即：平均值(MEAN)、*大測(cè)量值(MAX)、*小測(cè)量值(MIN)、測(cè)量次數(shù)(NO.)、標(biāo)準(zhǔn)偏差（S.DEV）。
⒎ 關(guān)機(jī)
在無(wú)任何操作的情況下，大約 2-3min 后儀器自動(dòng)關(guān)機(jī)。
時(shí)代TT220漆膜磁性涂層測(cè)厚儀的功能及操作方法:
1.測(cè)量方式(單次測(cè)量⇔連續(xù)測(cè)量)
單次測(cè)量方式-測(cè)頭每接觸被測(cè)件1次，隨著一聲?shū)Q響，顯示測(cè)量結(jié)果。如若再測(cè)量，須提起測(cè)頭離開(kāi)被測(cè)件，然后再壓下測(cè)頭。
連續(xù)測(cè)量方式-不提起測(cè)頭測(cè)量，測(cè)量過(guò)程中不伴鳴響，顯示屏連續(xù)顯示測(cè)量結(jié)果。
兩種方式的轉(zhuǎn)換方法是：在關(guān)機(jī)狀態(tài)下，按住“MODE”鍵后，再按“ON/C”鍵，隨著一聲?shū)Q響，轉(zhuǎn)換完成。
2.工作方式(直接方式⇔成組方式)
直接(DIRECT)方式--此方式用于隨意性測(cè)量，測(cè)量值暫存在內(nèi)存單元(共有15個(gè)存貯單元)。當(dāng)存滿(mǎn)15個(gè)存貯單元，新的測(cè)量值將替掉舊測(cè)量值，并且參與統(tǒng)計(jì)計(jì)算的數(shù)值，總是*新的15個(gè)數(shù)據(jù)；
成組方式(BATCH)--此方式便于用戶(hù)分批記錄所測(cè)試的數(shù)據(jù)，一組*多15個(gè)數(shù)值，每當(dāng)存滿(mǎn)一組(15個(gè))數(shù)據(jù)，屏幕將顯示此時(shí)可用“PRINT ALL?”打印出該組數(shù)值及其統(tǒng)計(jì)計(jì)算值。用“DELALL?”刪除該組數(shù)據(jù)，否則不能進(jìn)行新的測(cè)量。成組方式避免了直接方式下新值替舊值的隨意性。
兩種方式的轉(zhuǎn)換方法是：
a.按“MODE”鍵直至屏幕顯示
按“ON/C”鍵確認(rèn)后，屏幕顯示
進(jìn)入直接方式。
b.按“MODE”鍵直至屏幕顯示
按“ON/C”鍵確認(rèn)后，屏幕顯示
進(jìn)入成組方式。
3.刪除
刪除當(dāng)前值：當(dāng)前測(cè)量結(jié)果如果出現(xiàn)較大誤差，且不希望此結(jié)果進(jìn)入統(tǒng)計(jì)計(jì)算，可按“MODE”鍵，直至屏幕提示此時(shí)，按“ON/C”鍵即可將此數(shù)據(jù)刪除(如果不想刪除，在“DEL ONE?”狀態(tài)下，按▲或▼鍵即可)。
刪除全部數(shù)據(jù)：如果要?jiǎng)h除內(nèi)存中的全部數(shù)據(jù)以便進(jìn)行新一輪測(cè)量，可按“MODE”鍵，直至屏幕提示,此時(shí)，按“ON/C”鍵即可將內(nèi)存全部數(shù)據(jù)刪除(如果不想刪除，在“DELALL?”狀態(tài)下，按▲或▼鍵即可)。
4.統(tǒng)計(jì)計(jì)算
只要有3個(gè)測(cè)量值，即可進(jìn)行統(tǒng)計(jì)計(jì)算。操作方法是：重復(fù)測(cè)量3次以上,按“MODE”鍵直至屏幕顯示,按▲或▼鍵，平均值(MEAN)、*大測(cè)量值(MAX)、*小測(cè)量值(MIN)、測(cè)量次數(shù)(NO.)、標(biāo)準(zhǔn)偏差(S.DEV)可依次顯示。
例如：
若要回到測(cè)量狀態(tài)，按“MODE”鍵或“ON/C”鍵即可。
⒌ 打印功能
單次打印--與單次測(cè)量方式相對(duì)應(yīng)，每測(cè)量一次，打印一個(gè)測(cè)量值。
操作方式是：在單次測(cè)量方式下，按“MODE”鍵直至屏幕顯示,按“ON/C”鍵確認(rèn)后，屏幕顯示,此后，每次測(cè)量都將打印。若要放丟打印，在“PRT ONE?”狀態(tài)下，按▲或▼鍵即可。
連續(xù)打印--連續(xù)打印既適用于單次測(cè)量方式也適用于連續(xù)測(cè)量方式，內(nèi)存中的全部測(cè)量值及統(tǒng)計(jì)值一并打印輸出。操作方法是：按“MODE”鍵直至屏幕顯示按“ON/C”鍵確認(rèn)后，屏幕顯示,同時(shí)打印輸出內(nèi)存中的所有測(cè)量值及統(tǒng)計(jì)值。若要放棄打印，在“PRTALL?”狀態(tài)下，按▲或▼鍵即可。
時(shí)代TT220漆膜磁性涂層測(cè)厚儀的打印機(jī)與本儀器的連接:
只有本公司開(kāi)發(fā)設(shè)計(jì)的打印機(jī)可與本儀器連接，進(jìn)行打印工作。將打印連線(xiàn)一頭接打印機(jī)，另一頭接本儀器，打開(kāi)打印機(jī)電源，按上述方法操作即可。
⒍ 關(guān)于“MODE”鍵
按住“MODE”鍵不松開(kāi)，各狀態(tài)提示將依次出現(xiàn)。
時(shí)代TT220漆膜磁性涂層測(cè)厚儀的儀器的校準(zhǔn):
為使測(cè)量準(zhǔn)確，應(yīng)在測(cè)量場(chǎng)所對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)。
時(shí)代TT220漆膜磁性涂層測(cè)厚儀的校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)片（包括箔和基體）:
已知厚度的箔或已知覆蓋層厚度的試樣均可作為校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)片。簡(jiǎn)稱(chēng)標(biāo)準(zhǔn)片。
⒈ 校準(zhǔn)箔
對(duì)本儀器“箔”是指非磁性金屬或非金屬的箔或墊片,有利于曲面上的校準(zhǔn)。
⒉ 有覆蓋層的標(biāo)準(zhǔn)片
采用已知厚度的、均勻的、并與基體牢固結(jié)合的覆蓋層作為標(biāo)準(zhǔn)片。對(duì)于本儀器，覆蓋層應(yīng)是非磁性的。
時(shí)代TT220漆膜磁性涂層測(cè)厚儀的基體:
1.對(duì)于本儀器標(biāo)準(zhǔn)基體金屬的磁性和表面粗糙度，應(yīng)當(dāng)與待測(cè)試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。
為了證實(shí)標(biāo)準(zhǔn)片的適用性，可用標(biāo)準(zhǔn)片的基體與待測(cè)試件基體上所測(cè)得的讀數(shù)進(jìn)行比較。
2.如果待測(cè)試件的基體金屬厚度沒(méi)有超過(guò)參數(shù)表中所規(guī)定的臨界厚度，可采用下面兩種方法進(jìn)行校準(zhǔn)：
1) 在與待測(cè)試件的基體金屬厚度相同的金屬標(biāo)準(zhǔn)片上校準(zhǔn)；
2) 用一足夠厚度的，電學(xué)或磁學(xué)性質(zhì)相似的金屬襯墊標(biāo)準(zhǔn)片或試件，但必須使基體金屬與襯墊金屬之間無(wú)間隙。對(duì)兩面有覆蓋層的試件，不能采用襯墊法。
3.如果待測(cè)覆蓋層的曲率已達(dá)到不能在平面上校準(zhǔn)，則有覆蓋層的標(biāo)準(zhǔn)片的曲率或置于校準(zhǔn)箔下的基體金屬的曲率，應(yīng)與試樣的曲率相同。
時(shí)代TT220漆膜磁性涂層測(cè)厚儀的校準(zhǔn)方法:
本儀器有兩種測(cè)量中使用的校準(zhǔn)方法，零點(diǎn)校準(zhǔn)；二點(diǎn)校準(zhǔn)；還有一種針對(duì)測(cè)
頭的基本校準(zhǔn)。
1.零點(diǎn)校準(zhǔn)
a．在基體上進(jìn)行一次測(cè)量，儀器顯示＜×.×μm＞。
b．按一下“ON/C”鍵，屏顯＜0.00μm＞即完成零點(diǎn)校準(zhǔn)。
c．要準(zhǔn)確地校準(zhǔn)零點(diǎn)，須重復(fù)上述a、b 以獲得基體測(cè)量值小于1μm，這樣有利于提高測(cè)量精度。零點(diǎn)校準(zhǔn)完成后就可進(jìn)行測(cè)量了。
2.二點(diǎn)校準(zhǔn)
a．先校零點(diǎn)（見(jiàn)上）。
b．在厚度大致等于預(yù)計(jì)的待測(cè)覆蓋層厚度的標(biāo)準(zhǔn)片上進(jìn)行一次測(cè)量，屏幕顯示＜xxxμm＞。
c． 用▲或▼鍵修正讀數(shù)，使其達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)片上的標(biāo)稱(chēng)值。校準(zhǔn)已完成，可以開(kāi)始測(cè)量了。
注意：即使顯示結(jié)果與標(biāo)準(zhǔn)片值符合，按▲、▼鍵也是的，例如按一次▲鍵一次▼鍵。
如欲較準(zhǔn)確地進(jìn)行二點(diǎn)校準(zhǔn)，可重復(fù) b、c 過(guò)程，以提高校準(zhǔn)的精度，減少偶然誤差。
3.在噴沙表面上校準(zhǔn)
噴沙表面的特性導(dǎo)致了測(cè)量值大大偏離真值，其覆蓋層厚度大致可用下面的方法確定
a．儀器要用三、⒈或三、⒉的方法在曲率半徑和基材相同的平滑表面校準(zhǔn)好。
b．在未涂覆的經(jīng)過(guò)同樣噴沙處理的表面測(cè)量 10 次左右，得到平均值Mo。
c．然后，在已涂覆的表面上測(cè)量 10 次得到平均值Mm。
d．(Mm-Mo)±S 即是覆蓋層厚度。其中S（標(biāo)準(zhǔn)偏差）是SMm 和SMo 中較大的一個(gè)。
4.儀器的基本校準(zhǔn)
在下述情況下，改變基本校準(zhǔn)是有必要的：
--測(cè)頭頂端被磨損
--測(cè)頭修理后
--特殊的用途
在測(cè)量中，如果誤差明顯地超出給定范圍，則應(yīng)對(duì)測(cè)頭的特性重新進(jìn)行校準(zhǔn)，稱(chēng)為基本校準(zhǔn)。通過(guò)輸入 6 個(gè)校準(zhǔn)值（一個(gè)零值和5 個(gè)厚度值）可重新校準(zhǔn)測(cè)頭。
時(shí)代TT220漆膜磁性涂層測(cè)厚儀的基本校準(zhǔn)操作方法如下：
a．在儀器關(guān)閉狀態(tài)下按住▼鍵再按ON/C 鍵開(kāi)機(jī)，隨著一聲?shū)Q響即進(jìn)入基本校準(zhǔn)方式。屏幕顯示如下：
b．先校零值（見(jiàn)零點(diǎn)校準(zhǔn)）。可連續(xù)重復(fù)多次，以獲得一個(gè)多次校準(zhǔn)的平均值，這樣可提高校準(zhǔn)的準(zhǔn)確性。
c．使用標(biāo)準(zhǔn)片，按厚度增加的順序做五個(gè)厚度的校準(zhǔn)（見(jiàn)二點(diǎn)校準(zhǔn)中的b、c）。每個(gè)厚度應(yīng)至少是上一個(gè)厚度的1.6 倍以上，理想的情況是2倍。例如：50、100、200、400、800μm。*大值應(yīng)接近、但低于測(cè)頭的*大測(cè)量范圍。
d．在輸入 6 個(gè)校準(zhǔn)值后，測(cè)量一下零點(diǎn)，儀器自動(dòng)關(guān)閉，新的校準(zhǔn)值已存入儀器。當(dāng)再次開(kāi)機(jī)時(shí)，儀器將按新的校準(zhǔn)值工作。
時(shí)代TT220漆膜磁性涂層測(cè)厚儀的使用注意事項(xiàng):
對(duì)本儀器影響測(cè)量精度的因素主要有：基體金屬磁性、基體厚度、邊緣效應(yīng)、曲率、表面粗糙度、外界磁場(chǎng)、附著物質(zhì)、測(cè)頭壓力、測(cè)頭位置、試樣的變形等。
影響時(shí)代TT220漆膜磁性涂層測(cè)厚儀測(cè)量精度的因素及有關(guān)說(shuō)明:
1.基體金屬磁性
磁性法測(cè)厚受基體金屬磁性變化的影響（在實(shí)際應(yīng)用中，低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的），為了避免熱處理及冷加工因素的影響，應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn)。亦可用待涂覆試件進(jìn)行校準(zhǔn)。
2.基體金屬厚度
每一種儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度。大于這個(gè)厚度，測(cè)量就不受基體金屬厚度的影響。本儀器的臨界厚度值見(jiàn)第二章《技術(shù)參數(shù)》。
3.邊緣效應(yīng)
本儀器對(duì)試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測(cè)量是不可靠的。
4.曲率
試件的曲率對(duì)測(cè)量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大。
5.表面粗糙度
基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對(duì)測(cè)量有影響。粗糙程度增大，影響增大。粗糙表面會(huì)引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差，每次測(cè)量時(shí)，在不同位置上應(yīng)增加測(cè)量的次數(shù)，以克服這種偶然誤差。
如果基體金屬粗糙，還必須在未涂覆的粗糙度相類(lèi)似的基體金屬試件上取幾個(gè)位置校對(duì)儀器的零點(diǎn)；或用對(duì)基體金屬?zèng)]有腐蝕的溶劑溶解除去覆蓋層后，再校對(duì)儀器的零點(diǎn)。
6.磁場(chǎng)
周?chē)鞣N電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強(qiáng)磁場(chǎng)，會(huì)嚴(yán)重地干擾磁性法測(cè)厚工作。
7.附著物質(zhì)
本儀器對(duì)那些妨礙測(cè)頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感，因此，必須清除附著物質(zhì)，以保證儀器測(cè)頭和被測(cè)試件表面直接接觸。
8.測(cè)頭壓力
測(cè)頭置于試件上所施加的壓力大小會(huì)影響測(cè)量的讀數(shù)，因此本儀器測(cè)頭用彈簧保持一個(gè)基本恒定的壓力。
9.測(cè)頭的放置
測(cè)頭的放置方式對(duì)測(cè)量有影響。在測(cè)量中，應(yīng)當(dāng)使測(cè)頭與試樣表面保持垂直。
10.試件的變形
測(cè)頭會(huì)使軟覆蓋層試件變形，因此在這些試件上會(huì)測(cè)出不太可靠的數(shù)據(jù)。
時(shí)代TT220漆膜磁性涂層測(cè)厚儀使用時(shí)應(yīng)當(dāng)遵守的規(guī)定:
1.基體金屬特性
標(biāo)準(zhǔn)片的基體金屬的磁性和表面粗糙度，應(yīng)當(dāng)與試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似。
2.基體金屬厚度
檢查基體金屬厚度是否超過(guò)臨界厚度。
3.邊緣效應(yīng)
不應(yīng)在緊靠試件的突變處，如邊緣、洞和內(nèi)轉(zhuǎn)角等處進(jìn)行測(cè)量。
4.曲率
不應(yīng)在試件彎曲表面上測(cè)量。
5.讀數(shù)次數(shù)
通常由于儀器的每次讀數(shù)并不*相同，因此必須在每一測(cè)量面積內(nèi)取幾個(gè)讀數(shù)。覆蓋層厚度的局部差異，也要求在的面積內(nèi)進(jìn)行多次測(cè)量，表面粗糙時(shí)更應(yīng)如此。
6.表面清潔度
測(cè)量前，應(yīng)清除表面上的任何附著物質(zhì)，如塵土、油脂及腐蝕物質(zhì)等，但不要除去任何覆蓋層物質(zhì)。
關(guān)于時(shí)代TT220漆膜磁性涂層測(cè)厚儀的測(cè)量結(jié)果的說(shuō)明:
1.根據(jù)統(tǒng)計(jì)學(xué)的觀(guān)點(diǎn)，一次讀數(shù)是不可靠的。因此任何由本儀器顯示的測(cè)量值都是5次看不見(jiàn)的測(cè)量的平均值。這5 次測(cè)量是在幾分之一秒的時(shí)間內(nèi)由測(cè)頭和儀器完成的。
2.為使測(cè)量更加準(zhǔn)確，可用本儀器在待測(cè)點(diǎn)多次測(cè)量，并用刪除功能對(duì)粗大誤差進(jìn)行刪除，然后用本儀器的統(tǒng)計(jì)功能處理，獲取五個(gè)統(tǒng)計(jì)量：平均值（MEAN）、*大值（MAX）、*小值（MIN）、測(cè)試次數(shù)（NO．）、標(biāo)準(zhǔn)偏差（S．DEV）。
3.按照國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)，*終的測(cè)量結(jié)果可以表達(dá)為：
CH=M±2S
其中：
CH—涂層厚度
M—多次測(cè)量的平均值（MEAN）
S—標(biāo)準(zhǔn)偏差（S.DEV）
時(shí)代TT220漆膜磁性涂層測(cè)厚儀的保養(yǎng)與維修:
1.嚴(yán)格避免碰撞、重塵、潮濕、強(qiáng)磁場(chǎng)、油污等。
2.定期給主機(jī)充電：一般每工作 8~24 小時(shí)充電一次，每次充電12~14 小時(shí)。
3.如果未顯示錯(cuò)誤代碼而工作不正常，例如：
儀器不能自動(dòng)關(guān)機(jī)；
不能測(cè)量；
測(cè)量值反復(fù)無(wú)常。
出現(xiàn)這類(lèi)故障時(shí)，使儀器強(qiáng)制復(fù)位。
強(qiáng)制復(fù)位的方法是：
a．同時(shí)按▲鍵和MODE 鍵，屏幕依次顯示如下：
b．按▲+▼鍵，屏幕顯示
c．按▲鍵，屏幕顯示
d．按▼鍵，屏幕顯示
e．再按▲+▼鍵，屏幕顯示,松開(kāi)按鍵后屏幕顯示,至此，強(qiáng)制復(fù)位已完成。
f．在“RESET？”狀態(tài)，若要放棄強(qiáng)制復(fù)位，按▲或▼鍵即可。
注意：執(zhí)行強(qiáng)制復(fù)位后，以前的基本校準(zhǔn)值已丟失，用戶(hù)須重新進(jìn)行基本校準(zhǔn)（基本校準(zhǔn)方法見(jiàn)第四章）。
當(dāng)用戶(hù)通過(guò)上述方法仍不能排除故障時(shí)，請(qǐng)用戶(hù)不要拆機(jī)修，請(qǐng)將儀器交我公司維修部修理。
如果能將出錯(cuò)誤的情況簡(jiǎn)單描述一下，一同寄出，我們將會(huì)非常感謝您。
E01 儀器故障強(qiáng)制復(fù)位
E02 測(cè)頭磨損更換測(cè)頭
E03 測(cè)頭或儀器損壞修理測(cè)頭或儀器
E04 測(cè)量值不可靠。例如在磁場(chǎng)中或在軟覆蓋層上測(cè)量時(shí)，測(cè)量值發(fā)生大的波動(dòng)避開(kāi)強(qiáng)磁場(chǎng)在軟質(zhì)覆蓋層上測(cè)量時(shí)，應(yīng)采用輔助裝置進(jìn)行測(cè)量
E05 開(kāi)機(jī)時(shí)測(cè)頭離金屬基體太近測(cè)頭遠(yuǎn)離金屬基體
E06 廠(chǎng)家留用
E07 零值偏差太大，不能校零選擇合適的基體或修理儀器
E08 儀器損壞修理儀器
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