圖像測(cè)量?jī)x器技術(shù)做為一種視覺(jué)檢測(cè)技術(shù)，必須完成定量分析測(cè)量。測(cè)量精密度一直是該技術(shù)追求的關(guān)鍵指標(biāo)值。圖像測(cè)量?jī)x器系統(tǒng)軟件一般選用CCD（正電荷藕合元器件）等圖像感應(yīng)器設(shè)備獲得圖像信息，將其變換為模擬信號(hào)并將其收集到電子計(jì)算機(jī)中，隨后運(yùn)用圖像解決技術(shù)解決數(shù)據(jù)圖像數(shù)據(jù)信號(hào)。得到需要的各種各樣圖像。根據(jù)應(yīng)用校正技術(shù)將信息，最終圖像平面坐標(biāo)中的圖像規(guī)格信息變換為世界坐標(biāo)系中的具體規(guī)格信息，進(jìn)而完成規(guī)格，樣子和部位偏差的測(cè)算。

    近些年，全自動(dòng)三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)因?yàn)楣I(yè)生產(chǎn)生產(chǎn)量的迅速發(fā)展趨勢(shì)和生產(chǎn)加工技術(shù)水準(zhǔn)的提升，出現(xiàn)了很多的二種化規(guī)格的商品，即尺寸較大和小規(guī)格。比如，測(cè)量飛機(jī)場(chǎng)的外界規(guī)格測(cè)量大型機(jī)械的重要部件動(dòng)車組列車測(cè)量和小型部件的臨界值規(guī)格測(cè)量用以各種各樣設(shè)備的微型化發(fā)展趨勢(shì)，重要微規(guī)格的測(cè)量微電子學(xué)和微生物技術(shù)等，都為檢測(cè)技術(shù)產(chǎn)生了新的每日任務(wù)。圖像測(cè)量?jī)x器技術(shù)具備更寬的測(cè)量范疇。在大范疇和小范疇內(nèi)應(yīng)用傳統(tǒng)式的機(jī)械設(shè)備測(cè)量是非常艱難的。圖像測(cè)量?jī)x器技術(shù)能夠依據(jù)精密度規(guī)定制做一定占比的被測(cè)物件。變小或變大以進(jìn)行機(jī)械設(shè)備測(cè)量沒(méi)法完成的測(cè)量每日任務(wù)。因而，不論是超大型規(guī)格測(cè)量還是小規(guī)格測(cè)量，圖像測(cè)量?jī)x器技術(shù)的關(guān)鍵功效全是不言而喻的。一般來(lái)說(shuō)，大家將規(guī)格范疇從0.毫米到10毫米的部件稱之為小型部件，這種部件在國(guó)際性上被界定為中尺度部件。這種部件的精密度規(guī)定較高，一般在μm級(jí)，構(gòu)造繁瑣，傳統(tǒng)式的檢驗(yàn)方式 無(wú)法考慮測(cè)量必須。圖像測(cè)量?jī)x器系統(tǒng)軟件已變成小型部件測(cè)量中常見(jiàn)的方式 。大家務(wù)必根據(jù)在配對(duì)的圖像感應(yīng)器上具備充足放大率的光學(xué)鏡片看待測(cè)部件（或被測(cè)部件的重要特點(diǎn)）開(kāi)展顯像。獲得包括符合要求的測(cè)量總體目標(biāo)信息的圖像，并根據(jù)圖像數(shù)據(jù)采集卡將圖像收集到電子計(jì)算機(jī)中，隨后根據(jù)電子計(jì)算機(jī)開(kāi)展圖像解決和測(cè)算，獲得測(cè)量結(jié)果。

    三目正置分析顯微鏡小型零件行業(yè)的圖像測(cè)量?jī)x器技術(shù)關(guān)鍵有下列發(fā)展趨向：1.進(jìn)一步提高測(cè)量精密度。伴隨著工業(yè)生產(chǎn)水準(zhǔn)的持續(xù)提升，對(duì)細(xì)微零件的精密度規(guī)定將進(jìn)一步提高，進(jìn)而提升了圖像測(cè)量?jī)x器技術(shù)測(cè)量精密度的精準(zhǔn)性。另外，伴隨著圖像感應(yīng)器設(shè)備的迅速發(fā)展趨勢(shì)，高像素設(shè)備也為提升系統(tǒng)軟件精密度造就了標(biāo)準(zhǔn)。除此之外，對(duì)亞清晰度技術(shù)和超分辨率技術(shù)的進(jìn)一步科學(xué)研究也將為提升系統(tǒng)軟件精密度出示技術(shù)確保。

    2.提升測(cè)量高效率。領(lǐng)域中小型零件的應(yīng)用已經(jīng)幾何圖形級(jí)別上提高，100％線上測(cè)量的繁雜測(cè)量每日任務(wù)和生產(chǎn)制造實(shí)體模型必須高效率的測(cè)量。伴隨著電子計(jì)算機(jī)等硬件配置工作能力的提升和圖像解決優(yōu)化算法的持續(xù)提升，圖像測(cè)量?jī)x器系統(tǒng)軟件的高效率將獲得提升。3.完成微部件從點(diǎn)測(cè)量方式到總體測(cè)量方式的變換。目前的圖像測(cè)量?jī)x器技術(shù)受測(cè)量精密度的限定，大部分對(duì)細(xì)微部件中的重要特點(diǎn)地區(qū)開(kāi)展顯像，進(jìn)而完成重要特點(diǎn)點(diǎn)的測(cè)量，無(wú)法測(cè)量全部輪廊或全部特點(diǎn)點(diǎn)。伴隨著測(cè)量精密度的提升，得到零件的詳細(xì)圖像并完成總體樣子偏差的高精密測(cè)量將被用以愈來(lái)愈多的行業(yè)。總而言之，在微元器件測(cè)量行業(yè)，高精密的圖像測(cè)量?jī)x器技術(shù)的效率高必定變成高精密測(cè)量技術(shù)的關(guān)鍵發(fā)展前景。因而，圖像收集硬件配置系統(tǒng)軟件得到了圖像品質(zhì)圖像邊沿精準(zhǔn)定位系統(tǒng)軟件校正等階段明確提出的高些規(guī)定，具備寬闊的應(yīng)用前景和關(guān)鍵的研究意義。因而，該技術(shù)已變成世界各國(guó)科學(xué)研究的網(wǎng)絡(luò)熱點(diǎn)，已變成視覺(jué)檢測(cè)技術(shù)中最重要的運(yùn)用之一。