雜散光是
分光光度計(jì)的一項(xiàng)重要指標(biāo),它是指與測(cè)試波長(zhǎng)不同的其他波長(zhǎng)的光。雜散光的存在對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響很大,分析計(jì)算表明:由于雜散光的存在而引起的透射比測(cè)量誤差近似等于雜散光本身,由此可見(jiàn)雜散光是分光光度計(jì)的重要誤差來(lái)源之一。
分光光度計(jì)產(chǎn)生雜散光的因很多,其較主要的原因大致有以下9個(gè)方面:
1、灰塵沾污光學(xué)元件,如光柵、棱鏡、透鏡、反射鏡、濾光片等;
2、光學(xué)元件被損傷,或光學(xué)元件產(chǎn)生的其他缺陷,如光柵、透鏡和反射鏡、棱鏡材料中的氣泡等;
3、準(zhǔn)直系約部或有關(guān)隔板邊緣的反射;
4、光學(xué)系統(tǒng)或檢測(cè)器沒(méi)有作適當(dāng)?shù)钠帘危?/div>
5、熱輻射或熒光引起的二次電子發(fā)射;
6、狹縫的缺陷;
7、光束孔徑不匹配;
8、光學(xué)系統(tǒng)的像差;
9、單色器內(nèi)壁黑化處理不當(dāng)。
分光光度計(jì)只測(cè)試220nm處的雜散光,
不測(cè)試340nm處的雜散光,
這樣是不正確的,
需測(cè)試220nm處雜散光是因?yàn)椋?/div>
①據(jù)儀器學(xué)理論中的電光源理論,氘燈在220nm處能量很小,即信號(hào)很小,容易顯現(xiàn)雜散光;
②根根據(jù)量子光學(xué)理論,波長(zhǎng)是能量的倒數(shù),波長(zhǎng)短能量大,容易產(chǎn)生雜散光,而220nm處屬于短波部分;
③根據(jù)儀器學(xué)理論中的光電發(fā)射理論,光電倍增管在220nm處的光譜響應(yīng)(靈敏度)低,容易顯現(xiàn)雜散光。而測(cè)試340nm處雜散光的原因是*不同的,因?yàn)?40nm處一般是氘燈換鎢燈和儀器調(diào)換濾光片的地方,此時(shí)容易產(chǎn)生雜散光。所以,對(duì)于分光光度計(jì)來(lái)講,應(yīng)該測(cè)試220nm和340nm兩處的雜散光。
雜散光的測(cè)試方法:
1、首先將參比液注入配對(duì)石英石吸收池,分別放置在參比池座和試樣池座內(nèi)。再測(cè)定波段掃描基線并使之平滑。
2、將減光片插入試樣光路的濾光片槽內(nèi),其讀數(shù)即為減光片的衰減值K,然后將減光片插入?yún)⒈裙饴返臑V光片座內(nèi),
3、將石英吸收池中的蒸餾水依次換成上述截止濾光液,插入試樣試樣池座中,在相應(yīng)的波段內(nèi)掃描、打印;在記錄紙的作標(biāo)上量取測(cè)定波長(zhǎng)處的透光度,乘以衰減值K,即得各測(cè)定波長(zhǎng)處的雜散光值。
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