為了達到滿意的合格率，幾乎所有產品在出廠前都要先經過老化。制造商如何才能夠在不縮減老化時間的條件下提高其效率？本文介紹在老化過程中進行功能測試的新方案，以降低和縮短老化過程所帶來的成本和時間問題。


在半導體業界，器件的老化問題一直存在各種爭論。像其他產品一樣，半導體隨時可能因為各種原因而出現故障，老化就是通過讓半導體進行超負荷工作而使缺陷在短時間內出現，避免在使用早期發生故障。如果不經過老化，很多半導體成品由于器件和制造工藝復雜性等原因在使用中會產生很多問題。


在開始使用后的幾小時到幾天之內出現的缺陷（取決于制造工藝的成熟程度和器件總體結構）稱為早期故障，老化之后的器件基本上要求通過這段時間。準確確定老化時間的*方法是參照以前收集到的老化故障及故障分析統計數據，而大多數生產廠商則希望減少或者取消老化。