一、概念                
                  環(huán)境應力篩選（Environment Stress
                  Screen,ESS）是一種工藝手段，是通過向電子產(chǎn)品施加合理的環(huán)境應力和電應力，將其內(nèi)部的潛在缺陷加速變成故障，并通過檢驗發(fā)現(xiàn)和排除故障的過程。
                  ESS旨在激發(fā)并排除早期故障，使產(chǎn)品的可靠性接近設計的固有可靠性水平。應力水平以能激發(fā)出缺陷但不損壞產(chǎn)品為原則。ESS分為常規(guī)篩選和定量篩選。目前國內(nèi)僅廣泛開展常規(guī)篩選。
                  ESS的對象為元器件和各個組裝等級，
                  二、 典型篩選應力
                  各類典型篩選應力的強度及費用如下表所列。
                  表1 典型篩選應力強度及費用對比
                  應力類型 應力強度 費用
                  溫度 恒定高溫 低 低
                  溫度循環(huán) 慢速溫變 較高 較高
                  快速溫變 高 高
                  溫度沖擊 較高 適中
                  振動 正弦掃頻 較低 適中
                  隨機振動 高 高
                  綜合 溫度循環(huán)與隨機振動 高 很高
                  下面簡單介紹以上幾種典型篩選應力并比較其篩選效果。
                  1. 恒定高溫
                  也稱為高溫老化，使產(chǎn)品在規(guī)定高溫下連續(xù)不斷地工作，激發(fā)出早期故障。篩選方法要根據(jù)受篩產(chǎn)品是否發(fā)熱制定。該篩選廣泛應用于元器件的篩選，不適用于組件級（印制線路板、單元或系統(tǒng)）篩選。篩選效果遠低于溫度循環(huán)。
                  2. 溫度循環(huán)
                  影響篩選結果的主要參數(shù)為溫度變化范圍、溫度變化速率及循環(huán)次數(shù)。通常適用于組件級篩選。篩選溫度時間歷程考慮受篩產(chǎn)品通電和不通電兩種情況。激發(fā)的故障模式主要有：
                  a） 使涂層、材料或線頭上各種微觀裂紋擴大。
                  b） 使粘結不好的接頭松弛。
                  c） 使螺釘連接或鉚接不當?shù)慕宇^松弛。
                  d） 使機械張力不足的壓配接頭松弛。
                  e） 使質(zhì)量差的釬焊接觸電阻加大或造成開路。
                  f） 粒子污染。
                  3. 溫度沖擊
                  影響篩選結果的主要參數(shù)為溫度變化速率、溫度轉(zhuǎn)換時間及溫度沖擊循環(huán)次數(shù)。因其溫度變化率較高，產(chǎn)生的熱應力較大，是篩選元器件，尤其是集成電路器件的有效方法。用于組裝等級時要注意其可能造成的附加損壞。篩選效果類似于溫度循環(huán)。激發(fā)的故障模式類似于溫度循環(huán)。
                  4. 正弦掃頻
                  在一定時間段內(nèi)依次對產(chǎn)品內(nèi)需要重點篩選的元部件的共振頻率進行激勵，產(chǎn)生共振。篩選效果較隨機振動低。激發(fā)的故障模式主要有：
                  a） 結構部件、引線或元件接頭產(chǎn)生疲勞，特別是導線上有裂紋或類似缺陷的情況下。
                  b） 電纜磨損。
                  c） 螺釘接頭松弛。
                  d） 安裝加工不當?shù)募呻娐菲x開插座。
                  e） 匯流條及連到電路板上的釬焊接頭受到高應力，引起釬焊薄弱點故障。
                  f） 與可作相對運動的部件橋形連接的元器件引線因沒有充分消除應力而造成損壞。
                  g） 已受損或安裝不當?shù)拇嘈越^緣材料出現(xiàn)裂紋。
                  5. 隨機振動
                  在很寬的頻率范圍上對產(chǎn)品施加振動，產(chǎn)品在不同的頻率上同時受到應力，使產(chǎn)品的許多共振點同時受到激勵。篩選效果大大增強，篩選持續(xù)時間也減少到正弦掃頻的1/3-1/5。激發(fā)的故障模式與正弦掃頻的相同，但能激發(fā)的故障機理更復雜，激發(fā)故障的速度更快。
                  6. 篩選效果對比
                  a） 振動應力對于激發(fā)如松弛、碎屑和固定不緊的工藝缺陷更為有效。一般說來，發(fā)現(xiàn)缺陷中約20%是對振動響應的結果。
                  b） 溫度循環(huán)對于發(fā)現(xiàn)參數(shù)漂移、污染之類的元器件缺陷更為有效。一般說來，發(fā)現(xiàn)缺陷中約80%是對溫度響應的結果。

                  三、 針對不同組裝等級的ESS
                  根據(jù)圖1可知，組裝等級分為組件級、單元級和系統(tǒng)（設備）級。下面介紹組件級和單元級的優(yōu)缺點及可篩選出的主要缺陷。
                  1. 組件級
                  優(yōu)點：尺寸小，不通電測試，成本低；熱慣性小，溫度變化率較高；能進行比單元級的溫度變化幅度更大的篩選，篩選效率高。
                  缺點：不通電導致尋找故障效率低；如要通電檢測，則需專門測試設備，成本將增加；無法篩選單元級、系統(tǒng)級引入的缺陷。
                  缺陷：漏檢的元器件缺陷；元器件和電路板焊接點分離；焊接缺陷；參數(shù)漂移、超出容差。
                  2. 單元級及以上組裝級
                  優(yōu)點：因為不需要專門設計檢測系統(tǒng)，篩選期間易進行通電和檢測，檢測效率高；單元中各級間的接口也能得到篩選；能篩選出各種類型的潛在缺陷；能發(fā)現(xiàn)某些設計缺陷。
                  缺點：熱慣性大，溫度變化速率小，溫度循環(huán)時間需加長；要考慮多種元部件的溫度極限，篩選溫度變化幅度減小，篩選率降低；成本高。
                  缺陷：組件級的連接缺陷；導線連接缺陷；輸入/輸出連接缺陷；單元內(nèi)部電纜缺陷；組裝中使用了以前未經(jīng)篩選組件（如采購的組件等）引入的缺陷。
                  小結：理論上應當對各個組裝等級進行逐級ESS，實際工作中則要權衡技術和成本等各方面因素，結合產(chǎn)品確定佳的篩選方案。如果根據(jù)產(chǎn)品使用情況和其他試驗信息得知故障主要出現(xiàn)在某一組裝等級，則可僅針對該組裝等級進行ESS。通常較為實用的方法是對組件進行溫度循環(huán)篩選，對單元以上等級進行隨機振動試驗。
                  四、 主要工作
                  ESS是提高批產(chǎn)品可靠性的重要工序，是進行其他可靠性試驗的前提條件。后續(xù)工作如下。
                  1. 對需篩選產(chǎn)品的各類故障信息進行統(tǒng)計分析，盡可能確定故障主要出現(xiàn)的組裝等級。故障信息主要包括：
                  1） 研制階段的故障信息，特別是故障類型分布和數(shù)量，以及故障所在部位的信息。
                  2） 各類試驗，如性能試驗、環(huán)境試驗、可靠性試驗等中的故障信息。
                  3） 產(chǎn)品使用過程中的故障信息。
                  2.收集受篩選產(chǎn)品對溫度和振動響應的特征信息，主要包括產(chǎn)品中各重要元器件的熱點、溫度穩(wěn)定時間、產(chǎn)品的共振點、產(chǎn)品中振動響應大的部位等。
                  3. 收集產(chǎn)品使用的元器件和其他外構件質(zhì)量水平信息。主要包括出廠前是否進行ESS、批生產(chǎn)采用的ESS篩選應力等。
                  4. 根據(jù)以上收集到的信息進行評估分析，權衡ESS效果、試驗設備能力及成本等因素，初步設計ESS大綱。
                  5. 按規(guī)定的設計準則對大綱進行適當調(diào)整，并根據(jù)實際情況實時調(diào)整，使ESS更為經(jīng)濟有效。

http://www.hongzhan.cc/China/Product/Fast_Response_Temperature_Chamber/ESS.html

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