1.電容式測(cè)量?jī)x表

• 對(duì)于顆粒狀物料和粉粒狀物料，如：煤、塑料單體、肥料、砂子等料面連續(xù)測(cè)量和位式測(cè)量，宜選用電容式測(cè)量?jī)x表。

• 檢測(cè)器的延伸電纜應(yīng)采用屏蔽電纜，或考慮采用防電磁干擾的措施。

2.聲波式測(cè)量?jī)x表

• 對(duì)于無振動(dòng)或振動(dòng)小的料倉(cāng)、料斗內(nèi)粒度為10mm以下的顆粒物狀料面的位式測(cè)量，可選用音叉料位計(jì)。

• 對(duì)于粒度為5mm以下的粉粒狀物料的料面位式測(cè)量，應(yīng)選用聲阻斷式超聲料位計(jì)。

• 對(duì)于微粉狀物料的料面連續(xù)測(cè)量和位式測(cè)量，宜選用反射式超聲料位計(jì)。反射式超聲料位計(jì)不宜用于有粉塵彌漫的料倉(cāng)、料斗的料面測(cè)量，也不宜用于表面不平整的料位測(cè)量。

3.電阻式（電接觸式）測(cè)量?jī)x表

• 對(duì)于導(dǎo)電性能良好或?qū)щ娦阅懿睿兴莸念w粒狀和粉粒狀物料，如：煤、焦炭等料面的位式測(cè)量，可選用電阻式測(cè)量?jī)x表。

• 必須滿足產(chǎn)品規(guī)定的電極對(duì)地電阻的數(shù)值，以保證測(cè)量的可靠性和靈敏度。

4.重錘式測(cè)量?jī)x表

• 對(duì)于料位高度大，變化范圍寬的大型料倉(cāng)、散裝倉(cāng)庫(kù)以及敞開或密閉無壓容器內(nèi)的塊狀、顆粒狀和附著性不大的粉粒狀物料的料面定時(shí)連續(xù)測(cè)量，應(yīng)選用重錘式測(cè)量?jī)x表。

• 重錘的形式應(yīng)根據(jù)物料的粒度、干濕度等因素選取。

• 對(duì)于有粉塵彌漫嚴(yán)重的料倉(cāng)、容器的料位測(cè)量，應(yīng)使用帶吹氣裝置的重錘式測(cè)量?jī)x表。

5.核輻射式測(cè)量?jī)x表

• 對(duì)于高溫、高壓、粘附性大、腐蝕性大、毒性大的塊狀、顆粒狀、粉粒狀物料的料面位式測(cè)量和連續(xù)測(cè)量，可選用核輻射式測(cè)量?jī)x表。

• 其它要求應(yīng)符合前述的規(guī)定。

6.激光式測(cè)量?jī)x表

• 對(duì)于結(jié)構(gòu)復(fù)雜或有機(jī)械障礙的容器，以及按常規(guī)的方法難以安裝的容器的料面連續(xù)測(cè)量，應(yīng)選用激光式測(cè)量?jī)x表。

• 對(duì)于無反射的*透明物料，不能采用激光式測(cè)量?jī)x表。

7.阻旋式測(cè)量?jī)x表

• 對(duì)于承壓較小、無脈動(dòng)壓力的料倉(cāng)、料斗，物料比密度為0.2以上顆粒狀和粉粒狀物料料面的位式測(cè)量，可選用阻旋式測(cè)量?jī)x表。

• 旋翼的尺寸應(yīng)根據(jù)物料的比密度選取。

• 為避免物料撞擊旋翼造成儀表誤動(dòng)作，應(yīng)在旋翼上方設(shè)置保護(hù)板。

8.隔膜式測(cè)量?jī)x表

• 對(duì)于料倉(cāng)、料斗內(nèi)顆粒狀或粉粒狀物料料面的位式測(cè)量，可選用隔膜式測(cè)量?jī)x表。

• 由于隔膜的動(dòng)作易受粉粒附著的影響和粉粒流動(dòng)壓力的影響，不能用于精度要求較高的場(chǎng)合。

9.微波式測(cè)量?jī)x表

• 對(duì)于高溫、粘附性大、腐蝕性大、毒性大的塊狀、顆粒狀物料的料面位式測(cè)量和連續(xù)測(cè)量，宜選用微波式測(cè)量?jī)x表。

• 不宜用于表面不平整的料位測(cè)量。