烘焙的質地紋理-C-Cell孔隙(成像)分析儀 |
在烘焙領域中使用質構儀進行質量分析已有完善的基礎,如全質構分析(Texture Profile Analysis)、AACC與AIB測試標準等,然而有部份質地單靠質構儀無法完整表達優劣與了解原因,如吐司的綿密與軟彈關聯,想要知道內部的質地紋理就需要搭配C-Cell孔隙(成像)分析儀來了解孔隙的大小、形狀與走向,以更好的體會配方與工藝帶來的改變。 C-Cell孔隙(成像)分析儀是一種以高分辨率拍攝產品切片,并利用影像、光影、色差來進行切面分析的儀器,可以得到產品孔隙大小形狀分布、粗糙度、均勻度與對比度等外觀參數。目前C-Cell已經通過AACCi Method 10-18.01,被認證是觀測面包品質的一個重要指標,在面包、蛋糕、披薩等等食品領域廣泛應用,可以用于配方控制、產品評估、工藝發展等等,如在烘焙品中質地受面筋蛋白影響,在制作過程中會有許多不可控制的隨機結構,然而在工廠的生產中,產品的均一性是非常重要的,因此往往會用特殊工藝來降低隨機性(如面團多次搟卷),而C-Cell可以藉由成品差異對產線工藝或原料配方進行修正以確保產品的一致性。 |
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