阻抗差分探頭（TDR-Probe）產品簡介

型號： 40G   型號編碼：DP-SS-035-40F

產品簡介

“全儀測控”開發的TDR/TDT 測試探頭采用時域反射技術的原理，能在線檢測PCB傳輸線阻抗值，并能對高速PCB信號線阻抗變化進行高精度在線批量測試。

這是一款符合人體工程學設計的手持式探頭，可以將 TDR/TDT 模塊（例如 54754A）連接到缺少通用同軸高頻連接器的印刷電路板（PCB）和器件。探頭有內置的旋輪，通過旋輪可以調節差分探針之間的間距，使之能夠良好地接觸焊盤或測試接入點。這些測試接入點的間距可以從極微小的（0.5 mm）到典型 IC 引腳間距（2.54 mm）不等。

適用場景：

可適用于PCB、PFC線路板、高頻電纜及高頻線材等企業

• 設計研發

• 驗證解析

• 品質檢驗

• 生產測試

射頻工程師通過TDR/TDT 測試探頭組成的測試系統，可有效分析被測件引起反射、對設計的信號完整性（SI）產生不利影響的位置。PCB/FPC的品質部門/測試部門也可以通過該測試系統確定短路、開路或其他缺陷的位置，從而控制每批產品的工藝一致性，由此提升工藝品質。

使用方式：

TDR-Probe可與以下器件結合使用：

      1、 是德/安捷倫 KEYSIGHT 86100C Infiniium DCA-J寬帶示波器；

      2、 Agilent 86100C-202 增強型阻抗和 S 參數軟件；

      3、 Agilent  54754A 差分和單端 TDR-TDT 模塊。

     TDR-Prob給被測件（DUT）施加小電子步進信號，并接收其響應。響應將在時域中進行處理和顯示，或作為 S 參數（SDD11、SDD22、SDD21 或 SDD22）進行處理和顯示。時域測量可以顯示反射的電壓或觀察到的阻抗隨時間或距離的變化。S 參數測量包括幅度、相位和群延遲。