涂膜測厚儀在測量前要做二點校準和零點校準，二點校準就是把標準膜片放在金屬基片上測試，如果在允許誤差就不需要進行二點測試，如果誤差很大校準結束后在測試標準片，直到顯示的數據正常為止。零點校準就是將機器打開調到零點校準的模式，在被測工件上測試然后完成就可以。

涂膜測厚儀的測試方法主要有：磁性測厚法，放射測厚法，電解測厚法，渦流測厚法，超聲波測厚法。在做磁性測厚法的時候要注意以下八點：/

1.在進行磁性測厚法的時候要注意標準片集體的金屬磁性和表面粗糙度應當與試件相似。

2.在測量的時候要注意，側頭與試樣表面保持垂直。

3.在進行測試的時候要注意基體金屬的臨界厚度，如果大于這個厚度測量就不受基體金屬厚度的影響。

4.在測量的時候要注意試件的曲率對測量的影響。因此在彎曲的試件表面上測量時不可靠的。

5.測量前要注意周圍其他的電器設備會不會產生磁場，如果會將會干擾磁性測厚法。

6. 測量時要注意不要在內轉角處和靠近試件邊緣處測量，因為一般的測厚儀試件表面形狀的忽然變化很敏感。/

7.在測量時要保持壓力的恒定，否則會影響測量的讀數。

8.在進行測試的時候要注意儀器測頭和被測試件的要直接接觸，因此在進行對側頭清除附著物質。