射頻導納物位開關廣泛應用于石油、化工、冶金、電力、醫藥、食品、造紙、建材等工業領域。該產品是利用高頻技術，由電子線路產生一個小功率射頻信號于探頭上，探頭作為敏感元件，將來自物位介電常數引起的信號變化反饋給電子線路；由于這些變化包括容量和電導量的變化，因而電子線路處理的是容抗和阻抗的綜合變化信號；進行處理后改變繼電器的輸出狀態。它是在原電容測量的基礎上改進射頻導納測量技術，代表了當今物位測量的新水平。
射頻導納物位開關介質如何選型：
1、物位開關僅能用于介電常數≥1.6的物位測量，所以測量介質應具有一定的介電常數。
2、物位開關為接觸性測量，故被測物料不能過大，以免射頻導納探頭被砸彎損壞，所以其不適合用于密度和顆粒較大介質的測量。
3、在測量非導電性介質時，應盡量選用帶有絕緣層的探頭，以防介質中混進腐蝕性物質，腐蝕測量探頭。對于絕緣式探頭，應考慮介質的溫度與壓力影響。但溫度與壓力有一個對應的曲線范圍，不在曲線范圍內工作則介質會破壞絕緣層，使介質通過絕緣層滲透到探桿處結晶，影響測量結果。另外，在直徑較大的非導電介質容器中，為提高測量的靈敏度和準確度，可選用帶輔助電極的探頭，或者將射頻導納物位開關盡量安裝在容器的邊緣。
4、如果物料的黏度較高時，物料在探桿與接地管參考電極之間的流動速度會受到限制，使得管中物位不能真正代表罐中的實際物位，此時在選用射頻導納物位開關時應慎重。
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