隨著科學技術的不斷發(fā)展，掃描電子顯微鏡被越來越多的應用在不同的科研領域內。EM科特CUBE系列臺式掃描電鏡，采用高質量的模塊組件與智能化的操控軟件，能夠滿足質量生產和科學研究中的大部分微觀觀察、測量及分析需求。

EM科特（EmCrafts）CUBE系列臺式掃描電鏡，是一款緊湊型桌面掃描電子顯微鏡。區(qū)別于傳統(tǒng)掃描電鏡的笨重機身，EM科特CUBE系列占地面積小，無需特殊安裝環(huán)境，高便攜性能使其可遵照客戶服務指南任意移動SEM設備。

EM科特CUBE系列臺式電鏡擁有8大技術特點，使用戶在測試樣品時既可保證圖像質量，又能獲得更佳的體驗。下面小編來為大家介紹一下它們。

1-30kV高性能電源
在掃描電鏡測試時，加速電壓的選擇對于圖像質量有著顯著影響。較寬的電壓選擇可以從容面對不同的樣品測試。CUBE系列臺式掃描電鏡搭載高性能的高壓電源，電壓范圍為1kV到30kV，每1kV電壓為一步進，連續(xù)可調。根據不同樣品的不同特性，選擇適合的電壓進行測試，解決您的使用煩惱。

如圖所示，在30kV的加速電壓下，二次電子分辨率能夠達到5nm，這對于大部分的材料形貌分析來說已經能夠從容面對。并且在觀察不到電樣品的時候，可以使用低加速電壓進行觀察。

為了能夠獲得更好的拍攝效果，可以針對不同的樣品進行加速電壓的選擇以獲得的圖像。

預對中燈絲

由于高能電子的產生原理，燈絲成為了消耗品。一般情況下燈絲燒斷后，需要操作人員調整燈絲和韋氏帽的高度，才能使電鏡達到測試要求。但是對于用戶來說，調整燈絲是極為耗費時間的，且操作人員還有可能因為調整技術及角度的問題導致燈絲達不到理想測試要求，從而造成圖像像質量差，無法觀測樣品。

為了這一情況，提高用戶的使用體驗，CUBE系列臺式掃描電鏡在設計之初便采用了預對中的鎢燈絲。當燈絲達到使用壽命后，只需要像插拔插座一樣，即可快速更換燈絲，無需進行額外調整，方便快捷減少損耗。

SE和BSE探測器

CUBE系列臺式掃描電鏡配備自主研發(fā)的高品質二次電子探測器與背散射探測器，高品質的探測器對樣品表面形貌十分敏感，可快速分析區(qū)分微區(qū)內的成分和結構。

CUBE系列臺式掃描電鏡SE與BSE探測器，可選擇單通道/多通道，或是組合使用，多種方案的選擇確保用戶對樣品成像質量的把控。

超大樣品室

對于測試人員來說，越大的樣品室越易使用，CUBE系列臺式掃描電鏡擁有超大樣品室，使得一些大尺寸樣品可以在不經過處理的前提下直接放入樣品室，進行分析測試。大大節(jié)約了前期樣品預處理的時間。

下圖為10cm長的樣品，可以直接放入樣品室拍攝。