摘要：存儲測試技術(shù)是在特殊環(huán)境下記錄運動物體參數(shù)的zui有效的手段。本文介紹了基于ARM7 LPC21xx開發(fā)存儲測試系統(tǒng)的方法。Philips公司16/32位微控制器LPC21xx是基于支持實時仿真和嵌入式跟蹤的16/32 位ARM7TDMIS CPU的微控制器，它具有掉電和空閑兩種節(jié)電模式，可用電池供電并且長期工作。利用微控制器內(nèi)部自帶的10位A/D轉(zhuǎn)換器來采樣，用SPI與nRF24L01模塊通信。

引言

存儲測試技術(shù)[1]方法是記錄在特殊環(huán)境下運動物體參數(shù)的行之有效的方法。它是先將測試數(shù)據(jù)存入存儲器，待裝置回收后通過特定接口與上位機進行通信，還原數(shù)據(jù)信息。在許多消費類電子產(chǎn)品中，對數(shù)據(jù)采集存儲系統(tǒng)的實時性和功耗提出了更高的要求，不僅要同時滿足低功耗和微型化設(shè)計，還要實時地反映現(xiàn)場采集數(shù)據(jù)的變化。這樣，就必須對系統(tǒng)的采樣速率、功耗等提出更高的要求。隨著半導(dǎo)體技術(shù)的發(fā)展，各種技術(shù)的進步使得高速度、低功耗的數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)能夠?qū)崿F(xiàn)。

本文主要使用Philips公司16/32位微控制器LPC2148[23]作為核心控制元件，通過與nRF24L01[4]結(jié)合使用，實現(xiàn)數(shù)據(jù)的采集、存儲以及發(fā)送。

1 系統(tǒng)原理

整個測試系統(tǒng)由模擬適配電路、外部晶振、微控制器、存儲器模塊、電源管理模塊、無線收發(fā)模塊以及接口電路組成，如圖1所示。
1.1 電源模塊

對電源模塊的設(shè)計是實現(xiàn)整個系統(tǒng)省電的核心部分。即電源只需要在電路各個模塊需要的時候給其供電，在不需要的時候斷電來減小系統(tǒng)的無效耗電量?？梢允褂脝坞姵仉娫垂╇妼崿F(xiàn)多分枝電源網(wǎng)絡(luò)管理，使得系統(tǒng)各個模塊的電源相對獨立供電。但此時要注意帶電部分和不帶電部分的兼容問題。

1.2 模擬適配電路

由于由傳感器測量的信號十分微弱，需要經(jīng)過適當?shù)姆糯鬄V波等修正后才能夠進行一系列處理。

1.3 微控制器

本測試系統(tǒng)選用Philips公司16/32位微控制器LPC2148作為核心控制元件。它內(nèi)部自帶10位A/D轉(zhuǎn)換器，無需外加A/D轉(zhuǎn)換器，即可以減小體積，又可以節(jié)省成本。同時它還具有掉電模式和空閑模式兩種省電模式，合理設(shè)計可以減小系統(tǒng)功耗。

1.4 接口電路以及無線收發(fā)部分

本測試系統(tǒng)有兩種方法與上位機進行通信，一種是通過無線收發(fā)模塊nRF24L01來實現(xiàn)，另一種是通過特定的接口電路來實現(xiàn)，這樣即使無線傳輸部分出現(xiàn)錯誤還可以保證事后回收數(shù)據(jù)。

2 系統(tǒng)主要部分的硬件與軟件介紹

2.1 內(nèi)部A/D轉(zhuǎn)換器的開發(fā)

LPC2148內(nèi)部有兩個10位逐次逼近式模數(shù)轉(zhuǎn)換器，8個引腳復(fù)用為輸入腳（ADC0和ADC1），它具有掉電模式，測量范圍是0 V~VREF,10位的轉(zhuǎn)換時間≥2.44 μs，具有一個或者多個輸入的突發(fā)轉(zhuǎn)換模式，可選擇由輸入跳變或定時器匹配信號觸發(fā)轉(zhuǎn)換。它的基本時鐘由VPB（VLSI外圍總線）時鐘提供，每個轉(zhuǎn)換器包含一個可編程分頻器，可將時鐘調(diào)整至逐步逼近轉(zhuǎn)換所需的4.5 MHz（zui大），*精度要求的轉(zhuǎn)換需要11個這樣的時鐘。本文用LPC2148的I/O端口來實現(xiàn)，使用ADC模塊的通道3 進行電壓的測量，定義I/O端口P0.30為AD0.3，通過定時器中斷的到來而對電壓進行采樣，對ADC寄存器的設(shè)置如下：

AD0CR=（1<<3）| //SEL=8,選擇通道3

（（Fpclk/10000001）<<8）| //CLKDIV= Fpclk/10000001，轉(zhuǎn)換時鐘為 1 MHz

（0<<16）| //BURST=0,軟件控制轉(zhuǎn)換操作

（0<<17）| //CLKS=0,使用11clock轉(zhuǎn)換

（1<<21）| //PDN=1,正常工作模式

（0<<22）| //TEST1:0=00,正常工作模式

（1<<24）| //START=1,直接啟動A/D轉(zhuǎn)換

（0<<27）| //直接啟動A/D轉(zhuǎn)換時此位無效

DelayNS（10）;

ADC_Data=AD0DR；//讀取A/D轉(zhuǎn)換結(jié)果，并清除DONE標志位

while（1）{

AD0CR|=1<<24; //進行*次轉(zhuǎn)換

while（（AD0STAT&0x80000000）==0）;//等待轉(zhuǎn)換結(jié)束

AD0CR|=1<<24;//再次啟動轉(zhuǎn)換

while（（AD0STAT&0x80000000）==0）;//等待轉(zhuǎn)換結(jié)束

ADC_Data=AD0DR；//讀取A/D轉(zhuǎn)換結(jié)果

}

2.2 SPI與nRF24L01模塊的通信

SPI是一個全雙工的串行接口。它設(shè)計成可以處理在一個給定總線上多個互聯(lián)的主機和從機。在給定的數(shù)據(jù)傳輸過程中，接口上只能有一個主機和一個從機進行通信。在一次數(shù)據(jù)傳輸過程中，主機總是向從機發(fā)送數(shù)據(jù)的8~16位，而從機也總是向主機發(fā)送一個字節(jié)數(shù)據(jù)。圖2 為SPI的4種不同數(shù)據(jù)的傳輸格式的時序。
在設(shè)置寄存器的過程中要注意CPOL為0和1時的不同以及SSEL、CPHA之間的關(guān)系。

SPI初始化的部分代碼如下：

void MSIP_Init（void）{

PINSEL0=（PINSEL0&（~（0xff<<8）））|（0x55<<8）; //設(shè)置引腳連接SPI

SPCCR=0x52;//設(shè)置SPI時鐘分頻

SPCR=（0<<3）| //CPHA=0,數(shù)據(jù)在SCK的*個時鐘沿采樣

（1<<4）| //CPOL=1,SCK為低有效

（1<<5）| //MSTR=1,SPI處于主模式

（0<<6）| //LSBF=0,SPI數(shù)據(jù)傳輸MSB（位7）在先

（0<<7）; //SPIE=0,SPI中斷被禁止

}
嵌入式微控制器與NRF24L01接口電路如圖3所示。

這8個引腳分別和微控制器的GPIO口相連，微控制器在初始化是設(shè)置成相應(yīng)的功能。GND為電源地；VDD為正電源1.9~3.6 V輸出；CE為工作模式的選擇，RX或TX模式；SS為SPI片選使能，低電平使能；SCK為SPI時鐘；MOSI 為SPI輸入；MISO為SPI輸出；IRQ為中斷輸出。

接收端部分代碼如下：

#Include "NRF24L01.h"

unsigned int RxBuf[5]; //接收緩沖，保存接收到的數(shù)據(jù)

int main（）{

NRF24L01_Initial（）; //nRF24L01初始化

while（（NRF24L01_RxStatus（））！=1）{//nRF24L01沒有數(shù)據(jù)請求

*P_Watchdog_Clear=0x0001;

}

NRF24L01_ReceiveByte（RxBuf）;//接收數(shù)據(jù)

while（1）{

*P_Watchdog_Clear=0x0001;

}

}

3 實驗數(shù)據(jù)與驗證

圖4是用本測試系統(tǒng)所測得的兩條實驗曲線。該曲線所測的是引信電池[8]的電壓量。曲線可以分成兩部分，一部分是電池電壓隨著時間的增加而增加，另一部分是隨著時間的增加電壓量保持不變。這是由引信的特殊結(jié)構(gòu)所致。

經(jīng)過實驗論證，本測試系統(tǒng)在誤差允許的范圍內(nèi)可以達到測量精度要求，從而驗證了本測試系統(tǒng)具有較強的應(yīng)用性。

4 展望

未來的嵌入式產(chǎn)品是軟硬件緊密結(jié)合的設(shè)備，為了降低功耗和成本，需要設(shè)計者盡量精簡系統(tǒng)內(nèi)核，只保留和系統(tǒng)功能緊密相關(guān)的軟硬件，利用zui低的資源實現(xiàn)zui適當?shù)墓δ?，通常都具有低功耗、體積小、集成度高等特點[9]。嵌入式系統(tǒng)和具體應(yīng)用有機地結(jié)合在一起，它的升級換代也是和具體產(chǎn)品同步進行，因此嵌入式系統(tǒng)產(chǎn)品一旦進入市場，具有較長的生命周期和巨大的市場潛力。
參考文獻

[1] 祖靜, 申湘南, 張文棟. 存儲測試技術(shù)[J].兵工學(xué)報,1995（2）.

[2] 周立功，等.深入淺出ARM7——LPC213x/214x[M].北京：北京航空航天大學(xué)出版社,2005.

[3] 周立功,等. ARM嵌入式系統(tǒng)基礎(chǔ)教程[M].北京：北京航空航天大學(xué)出版社,2005.

[4] nRF2401與SPI接口[EB/OL].[20080218].http:///SPI%20interface.pdf.

[5] ARM公司.ARM Developer Suite_CodeWarrior IDE Guide,2000.

[6] ARM公司.ARM Developer Suite_Compliers and Libraries,2000.

[7] ARM公司.ARM Developer Suite_Assembler Guide,2000.

[8] 王瑩澈，田昱，朱雅鵬. 鉛酸儲備電池在非旋轉(zhuǎn)彈引信上的應(yīng)用探索[J]. 探測與控制學(xué)報，2008,30（5）:5256.

[9] http://baike.baidu.com/view/6115.htm?fr=ala0_1_1.

孫婷婷（碩士生）、馬鐵華（教授、博士生導(dǎo)師）、沈大偉（講師），主要研究方向為動態(tài)測試與智能儀器。

作者：孫婷婷 馬鐵華 沈大偉 來源：《單片機與嵌入式系統(tǒng)應(yīng)用》