GIS設備內部缺陷產生局部放電的特征

a. 發生在導體周圍的電暈放電，由于氣體中的分子是自由移動的，因此GIS設備中的電暈放電過程與空氣中的電暈放電相似。

b. GIS設備中絕緣子內部的氣隙放電在工頻正負兩個半周內基本相同，即正負半周放電指紋基本對稱。放電脈沖一般出現在試驗電壓幅值值的上升部分，放電頻率依賴于所加電壓大小，只有在放電強烈時，才一會擴展到電壓值下降部分的相位上，且每次放電的大小不相等。

c. 絕緣子表面的缺陷(如污穢等)有助于表面電荷的增加，可能會形成表面放電，導致絕緣子表面的絕緣劣化，甚至擊穿。

d. 自由導電微粒和固體導體上金屬突起放電的相位分布有著明顯不同。這個特征通常可以用來區分缺陷的類型。GIS設備中自由導電微粒有積累電荷能力，在交流電壓作用下，靜電力可使導電微粒在GIS筒內跳動，如直立旋轉、舞動運動等。這種運動與放電的出現在很大程度上是隨機的。