GIS局部放電檢測(cè)技術(shù)研究現(xiàn)狀

來源：揚(yáng)州國(guó)浩電氣有限公司 2025年05月06日 07:29

局部放電的識(shí)別于1777年由Lightenberg在一次聚會(huì)上的報(bào)告所提及。他次利用圖形演示出了電介質(zhì)表面放電的放電通道。

在正極加電壓的微粒圖形(左)、在負(fù)極加電壓的微粒圖形(右)，由Lichtemberg在1777年制作

在1783年MAXWELL出版了“一篇關(guān)于電磁場(chǎng)的論文”，他的理論工作為以下兩個(gè)方面打下了基礎(chǔ)，一是局放探測(cè)設(shè)備的設(shè)計(jì)，二是發(fā)展建立更好理解復(fù)雜放電現(xiàn)象的物理模型。在1924年Schering的介損系數(shù)橋成為個(gè)用于局放電氣測(cè)量的設(shè)備。一年以后，在1925年Schwaiger發(fā)現(xiàn)了電暈放電的無線電頻率特性，成為了用無線電干擾測(cè)量來評(píng)估電暈放電噪音級(jí)別的基礎(chǔ)。1976年，Lemke博士利用積分橋電路來研究高靈敏度少脈沖放電。隨后于1980年，由Lemke博士等人聯(lián)合開發(fā)的基于寬頻前置放大局放脈沖的有功積分原理放大器截止頻率達(dá)10MHz的寬頻帶局放探測(cè)器次付諸于商業(yè)運(yùn)用。

隨著對(duì)局部放電研究的日漸深入，目前在GIS的實(shí)際生產(chǎn)制造和運(yùn)行檢測(cè)中運(yùn)用比較廣泛的局部放電檢測(cè)技術(shù)主要是常規(guī)電測(cè)法，超聲波檢測(cè)法和超高頻檢測(cè)法。常規(guī)脈沖電測(cè)法在技術(shù)上成熟，應(yīng)用較早，已經(jīng)形成了專業(yè)標(biāo)準(zhǔn)（IEC-60270和GB/T7354）。而超聲波檢測(cè)技術(shù)和超高頻檢測(cè)技術(shù)在近年來發(fā)展迅速，雖然沒有形成專門的標(biāo)準(zhǔn)，但作為局部放電的有效檢測(cè)手段也在逐漸被人們接受和認(rèn)可。由于這兩種方法的適用性和局限性有所不同，它們都經(jīng)歷了各自不同的發(fā)展過程，下面將簡(jiǎn)單介紹一下它們的研究發(fā)展現(xiàn)狀。

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