涂鍍層測厚儀性能影響因素包括以下一些：
a 基體金屬磁性質

　　磁性法測厚受基體金屬磁性變化的影響（在實際應用中，低碳鋼磁性的變化可以認為是輕微的），為了避免熱處理和冷加工因素的影響，應使用與試件基體金屬具有相同性質的標準片對儀器進行校準；亦可用待涂覆試件進行校準。

　　b 基體金屬電性質

　　基體金屬的電導率對測量有影響，而基體金屬的電導率與其材料成分及熱處理方法有關。使用與試件基體金屬具有相同性質的標準片對儀器進行校準。

　　c 基體金屬厚度

　　每一種儀器都有一個基體金屬的臨界厚度。涂鍍層測厚儀大于這個厚度，測量就不受基體金屬厚度的影響。本儀器的臨界厚度值見附表1。

　　d 邊緣效應

　　涂鍍層測厚儀對試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內轉角處進行測量是不可靠的。

　　e 曲率

　　試件的曲率對測量有影響。超聲波測厚儀這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大。因此，在彎曲試件的表面上測量是不可靠的。

　　f 試件的變形

　　測頭會使軟覆蓋層試件變形，因此在這些試件上測出可靠的數據。