溫度沖擊試驗(yàn)箱是針對(duì)于電工、電子產(chǎn)品，以及其原器件，及其它材料在溫度急劇變化的環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)。該試驗(yàn)設(shè)備主要用于對(duì)產(chǎn)品按照國(guó)家**標(biāo)準(zhǔn)要求或用戶自定要求，在高溫與低溫瞬間變化條件下，對(duì)產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進(jìn)行環(huán)境模擬測(cè)試，測(cè)試后，通過(guò)檢測(cè)，來(lái)判斷產(chǎn)品的性能，是否仍然能夠符合預(yù)定要求，以便供產(chǎn)品設(shè)計(jì)、改進(jìn)、鑒定及出廠檢驗(yàn)用。選擇購(gòu)買溫度沖擊試驗(yàn)箱時(shí)，除了自身的要求外，在設(shè)備性能指標(biāo)方面主要看三點(diǎn)： 
    **，溫濕度偏差。即環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備在穩(wěn)定狀態(tài)下，工作空間各測(cè)量點(diǎn)的實(shí)測(cè)高值和實(shí)測(cè)低值與標(biāo)稱值的上下偏差。 
    **，溫濕度波動(dòng)度。即環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備在穩(wěn)定狀態(tài)下，工作空間中心點(diǎn)參數(shù)隨時(shí)間的變化量。 
    第三，溫濕度均勻性。即環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備在穩(wěn)定狀態(tài)下，工作空間某一時(shí)刻各測(cè)試點(diǎn)之間的差異。