相比傳統儀器，納米粒度及zeta電位儀有什么特別之處？

來源：美國布魯克海文儀器公司 2025年07月10日 07:17

納米粒度及zeta電位儀是一款新型的、具有極寬測試范圍的多用途分析儀，它是采用光子相關光譜法、電泳光散射以及的FST技術的納米粒度儀和zeta電位分析儀，并可測定固體以及高濃度懸浮液的zeta電位，符合ISO標準。該儀器采用了高靈敏度測量技術，是同時滿足低濃度和高濃度樣品分析要求的納米粒度儀與zeta電位分析儀，可檢測粒徑從0.1nm到12.30μm，濃度從0.00001%到40%的樣品的粒徑。

納米粒度及zeta電位儀融納米顆粒粒度分布與zeta電位測量于一體，無需傳統的比色皿，一次進樣即可得到準確的粒度分布和Zeta電位分析數據。與傳統的zeta電位分析技術相比，納米粒度及zeta電位儀采用的“Y”型光纖探針光路設計，配置膜電極產生微電場，操作簡單，測量迅速，無需精確定位由于電泳和電滲等效應導致的靜止層，無需外加大功率電場，無需更換分別用于測量粒度和zeta電位的樣品池，消除由于空間位阻（不同光學元器件間的傳輸損失，比色皿器壁的折射和污染，比色皿位置的差異，分散介質的影響，顆粒間多重散射等）帶來的光學信號的損失，結果準確可靠，重現性好。

納米粒度及zeta電位儀主要特點：

1、異相多譜勒頻移技術，較之傳統的方法，獲得光信號強度高出幾個數量級，提高分析結果的可靠性。

2、可控參比方法（CRM），能精細分析多譜勒頻移產生的能譜，確保分析的靈敏度。

3、超短的顆粒在懸浮液中的散射光程設計，減少了多重散射現象的干擾，保證高濃度溶液中納米顆粒測試的準確性。

4、快速傅利葉變換算法（FFT，Fast Fourier Transform Algorithm Method）,迅速處理檢測系統獲得的能譜，縮短分析時間。

5、膜電極設計，避免產生熱效應，能準確測量顆粒電泳速度。

6、無需比色皿，毛細管電泳池或外加電極池，僅需點擊Zeta電位操作鍵，一分鐘內即可得到分析結果。

7、消除多種空間位阻對散射光信號的干擾，諸如光路中不同光學元器件間傳輸的損失，樣品池位置不同帶來的誤差，比色皿器壁的折射與污染，分散介質的影響，多重散射的衰減等，提高靈敏度。

8、采用的動態光散射技術，引入能普概念代替傳統光子相關光譜法。

9、“Y”型光纖光路系統，通過藍寶石測量窗口，直接測量懸浮體系中的顆粒粒度分布，在加載電流的情況下，與膜電極對應產生微電場，測量同一體系的Zeta電位，避免樣品交叉污染與濃度變化。

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