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納米粒度分析儀可以為膠體和聚合物化學專家提供綜合測量三項重要參數的能力,即粒度、zeta 電位和分子量。粒度 - NIBS 技術可以對粒徑范圍0.3 納米至 10 微米的顆粒和分子進行測量。 Zeta 電位 - M3-PALS 技術能夠對水分散和非水分散體系中的 zeta 電位進行準確的測量。分子量 - 雪崩光電二極管檢測器和光纖檢測光學裝置提供測量分子量所需的靈敏度和穩定性。
納米粒度分析儀測試操作流程:
采用離心沉降法分析樣品粒度分布,在高速旋轉的離心轉盤中建立起梯度溶液,常用的梯度液是蔗糖的水溶液。對于有些有pH等要求的樣品,在配制梯度液的時候應調節pH使之與樣品所處環境相同。需要準備兩種不同濃度的梯度液。建立梯度時,先向旋轉的轉盤中注入高濃度溶液,并依次逐步降低注入溶液濃度,后注入低濃度梯度液。轉盤中外側溶液濃度高、內側溶液濃度低,由于高速旋轉,不同濃度溶液短時間(可維持8小時)內可保持梯度而不會混合。待梯度液穩定后用進樣注射器將樣品從轉盤中間進樣口加入,顆粒由中心向周圍沉降。由于大顆粒沉降較快,小顆粒沉降較慢,通過檢測沉降速度,得到樣品的粒度分布信息。該方法優點是建立一次梯度溶液可以連續分析樣品而無須每樣清洗。待所有樣品分析結束后,通過軟件停止轉盤。將轉盤內溶液用帶軟管的注射器抽出并清洗轉盤。
納米粒度分析儀的性能特點:
1、高性能檢測器
使高性能的雪崩式光電二極管(APD)檢測器,靈敏度遠高于光電倍增管(PMT)。成本高但保障極優的測試性能。
2、研究級數字相關器
使用高速數字相關器,4000通道,采樣時間低至25ns。
3、穩定的激光光源和光路系統
采用高性能He-Ne 氣體激光器確保數據的重復性,波長633nm,功率 4mW。亦可選配50mW,532nm的固體激光器,用于標準633nm激光器不能檢測的樣品。可在300000:1的動態范圍內自動調節激光衰減器。
4、準確的內部控溫系統
獨立的循環溫控槽可在0 – 90℃ 范圍內任意設定,其控制精度達0.1℃,保障高重現性。亦可選裝120℃ 溫控槽。
5、的光學系統設計
納米粒度分析儀在一臺儀器中集成了動態光散射技術和靜態光散射兩種技術。動態光散射法用于測量粒度及分子大小,靜態光散射法用于確定蛋白質與聚合物的分子量。這種技術對整個系統的穩定性的要求很高,要求每個設計元素都必須實現優化,以確保高準確性和重現性。采用光路密閉設計,防止污染。算法上使用全范圍米氏理論(Mie Theory)。
6、功能豐富的軟件優化用戶體驗
提供標準操作程序(SOP)簡化常規測量;自動調節各種樣品設置;操作簡單,無須準直、校正或保養;智能化,可自動判斷數據報告的質量。
總的來說,納米粒度分析儀采用具有很高性價比的納米顆粒表征技術,適合需要較高粒度測量靈敏度,或者需要與使用90°散射角系統結果相同的應用。該儀器適用于對乳液、膠體、聚合物、蛋白質等樣品的分析。