美國麥克細微顆粒分析儀器培訓廣州站成功舉行
2009-06-08 來源：網絡 點擊量：303
由美國麥克儀器
公司與中山大學化學與化工學院材料研究所攜手舉辦的“細微顆粒分析儀器的應用原理及技術指導專題培訓講座”已經圓滿結束。此次講座由美國麥克儀器公司總部研發專家Dr.Tony Thornton（兼國際細微顆粒分析協會主席）主講，得到了廣大用戶的支持。
會議期間，我們主要針對物理吸附/化學吸附/高壓吸附/程序升溫技術/粒度分布等方面的內容進行了深入的討論。
| 許多用戶也針對使用過程中遇到的問題于專家進行的深入的交流，得到了很好的效果 |
為了使大家更好的了解當天講解的詳細內容，我們現在向大家免費發放會議當天的幻燈片，以便大家深入研究。如果哪位用戶需要，請聯系美國麥克儀器公司上海辦事處021-62179180索取。
版權與免責聲明：
①凡本網注明"來源：儀表網"的所有作品，版權均屬于儀表網，轉載請必須注明儀表網，。違反者本網將追究相關法律責任。
②本網轉載并注明自其它來源的作品，目的在于傳遞更多信息，并不代表本網贊同其觀點或證實其內容的真實性，不承擔此類作品侵權行為的直接責任及連帶責任。其他媒體、網站或個人從本網轉載時，必須保留本網注明的作品來源，并自負版權等法律責任。
③如涉及作品內容、版權等問題，請在作品發表之日起一周內與本網聯系，否則視為放棄相關權利。
