簡介x射線衍射儀的工作原理
2021-01-21標簽：x射線衍射儀
X射線衍射儀工作原理：
XRD即X射線衍射（X-ray diffraction）。每一種結晶物質，都有其特定的晶體結構。晶體結構可通過點陣類型、晶面間距等參數表征出來。使用X射線，在一定條件下照射被測樣品，可產生相干的散射（衍射）信號，經分析后可獲取晶體的結構參數，還可進而推斷樣品的物相組成、含量，以至晶粒尺寸、結晶度等其他多種結構相關信息。
實驗室設備介紹及樣品要求：
本實驗室現有兩臺套X射線衍射儀（理學DMAX RAPID II、布魯克D8 Advance），測試對象可以是微量粉末（＞0.001g，＞200目）、常量粉末（＞0.2g，＞320目）、固體碎屑微粒（粒徑0.03至1mm，用透射法）、塊狀顆粒（粒徑＜1cm，有平整表面，用反射法）、粘土滴片（26*26mm光面載玻片）、巖石薄片（光學片、電鏡片、注膠拋光顆粒等，用反射法）。
理學DMAX RAPID II系統：
光源：5.4kW（Cu、Mo可切換）轉靶點光源；窗口束斑直徑約1mm；可約束束斑直徑至0.03mm、0.05mm、0.1mm、0.3mm、0.8mm
測角臺（樣品臺）：雙轉軸（Omega、Phi）單平移軸（Z）基臺，配雙平移軸（X、Y）手動或自動樣品架基座，可換裝毛細管用變溫樣品架（室溫至400℃）
探測器：桶形固定式面探測器，衍射角（2θ）測量范圍（-45°，165°），方位角（β）測量范圍（2θ＜45°時β360°全域可測。
設備用途：1、微量粉末測試；2、微粒測試；3、原位微區測試（塊體、薄片）；4、高溫反應實時測試
布魯克D8 Advance系統
光源：3kW（工作功率1.6kW）Cu靶線光源。
光路：電控自適應狹縫系統，可在掃描過程中自動調整入射線端、樣品臺和衍射線端多種狹縫開口（不包括索拉狹縫）。
測角臺（樣品臺）：樣品臺單轉軸（垂直軸Phi），單平移軸（垂直軸Z）；90位自動進樣器，可換裝真空高溫臺（室溫至1600℃）。立式θ/θ測角臺，掃描范圍-110°~168°，步進馬達、光學編碼器雙重定位。
探測器：型號LYNXEYE XE-T能量色散二維陣列探測器，動態范圍≥108cps，線性≥4×107cps，背景≤0.1cps
X射線衍射儀用途：1、常量粉末（0.2g~1g）測試；2、粘土滴片樣測試；3、高溫反應實時測試。
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