摘要 掃描電子顯微鏡SEM3000

摘要型號：AO-HC200B總放大倍數：10X~220X連續變倍輸出模式：HDMI高清輸出：HDMI高清輸出功能：拍照、錄像、十字線、HDR寬動態 操作方式：按鍵操作幀率：60FPS輸出接口：HDMI接屏照明方式：LED亮度可調，使用壽命長使用領域：電子工廠、PCB、科研...

摘要 CT-NANO是一款功能全面的掃描電子顯微鏡，可對輕金屬合金和纖維復合材料等樣品進行納米CT測量

摘要 日本電子JSM-7500F 冷場發射掃描電子顯微鏡

摘要 日立 S-3700N掃描電子顯微鏡

摘要 日立 SU3500掃描電子顯微鏡

摘要 蔡司 EVO 系列模塊化的 SEM 平臺適用于直觀操作、例行檢測和研究應用

摘要 德國蔡司Sigma 系列產品用于高品質成像與高級分析的場發射掃描電子顯微鏡

摘要 Apreo場發射掃描電子顯微鏡

摘要 高清高速電子顯微鏡

摘要EVO掃描電子顯微鏡 蔡司EVO系列實現了高清掃描電子顯微術與直觀人性化體驗模式的融合您可以發現采用SmartSEM觸摸式用戶界面不僅使工作效率獲得實質性改善，而且大大縮減了培訓成本。在視覺檢查工作流程中，其不僅為所有用戶生成優質圖像，并且擁有超...

摘要憑借過去 60 年的技術創新歷史和業內， FEI 成為了透射電子顯微鏡 (TEM)、 掃描電子顯微鏡 (SEM)、整合了 SEM 與聚焦離子束 (FIB) 的 DualBeam™ 儀器和 用于精密高速切割與加工的專用聚焦離子束儀器的性能標準。 FEI 成像...

摘要 Sigma系列產品 用于高品質成像與高級分析的場發射掃描電子顯微鏡

摘要 超高分辨場發射掃描電子顯微鏡Regulus系列"Regulus系列"繼承了現有機型的觀察和分析性能，配備SU8200系列的低噪音冷場發射電子槍*1，可以獲得高穩定的束流

摘要 集優異性能、操作簡便性、多樣化功能于一身日立高新推出的掃描電鏡SU3800/SU3900兼具操作性和擴展性

摘要 超高分辨率場發射掃描電子顯微鏡SU9000專門為電子束敏感樣品和需*大300萬倍穩定觀察的*半導體器件，高分辨成像所設計

摘要 *的SEM更為緊湊寬幅僅為45cm的緊湊型的設計，仍具備4.0nm的圖像分辨率

摘要 HIROXSH-3000桌上型掃描電子顯微鏡簡介Hirox的SH-3000桌上型掃描電鏡又稱為iSEM/MINI-SEM/DesktopSEM/TabletopSEM/臺式電子顯微鏡或臺式掃描電鏡)

摘要 Hirox桌上型掃描電子顯微鏡簡介Hirox的SH-3500MB與SH-4000M/SH-5000M桌上型掃描電鏡系列，又稱為iSEM/MINI-SEM/DesktopSEM/TabletopSEM/臺式電子顯微鏡或臺式掃描電鏡

摘要 TM4000/TM4000Plus電子顯微鏡（臺式）介紹畫質更加清晰，操作更加便捷，觀看更加直觀

摘要 MZ11單筒連續變倍顯微鏡，具有工作距離長，成像清晰而平穩，操作方便等特點。 適用于半導體、芯片、FPC、電路板、金屬材料等領域的電子產品 工業生產線、印刷線路板的檢驗等。

摘要 一、掃描電子顯微鏡SEM3000S產品概述：掃描電子顯微鏡SEM3000S是一款使用鎢燈絲的高性能掃描電子顯微鏡

摘要 一、掃描電子顯微鏡SEM3000產品概述：掃描電子顯微鏡SEM3000是一款使用鎢燈絲的高性能掃描電子顯微鏡

摘要 200kV相差校正TEM/STEM，平衡了空間分辨率和傾斜、分析性能通過單極片實現0.078nm的STEM空間分辨率和高樣品傾斜度、高立體角EDX

摘要 專用掃描透射顯微鏡HD-2700，配備了與德國CEOSGmbH公司(總經理MaxHaider先生)共同開發的球差校正儀，顯著提高了掃描透射電子顯微鏡的性能，更適合高級納米技術研究

摘要 "RuliTEM"120kV透射電子顯微鏡系列

摘要 現有機型SU8240,SU8230,SU8220及SU8010重新整合，衍生而成Regulus8240、Regulus8230、Regulus8220、Regulus8100

摘要 電子顯微鏡（顯示器）主要為滿足現代數碼、電子產品、電子設備、半導體、LED、LCD等各種產品生產時的在線檢測、成像觀察、檢驗、測量

摘要 電子顯微鏡適用于電子工業生產線的檢驗、印刷線路板的檢定、印刷電路組件中出現的焊接缺陷(印刷錯位、塌邊等)的檢定、單板PC的檢定,具有長工作距離，并是適用范圍非常廣泛的常規顯微鏡,操作方便、直觀、QC檢定效率高

摘要美國FEI掃描電子顯微鏡主要特點：1.FEI ESEM（環境掃描電鏡）技術,可在高真空、低真空和環境真空條件下對各種樣品進行觀察和分析。2.所有真空條件下的二次電子、背散射電子觀察和微觀分析。3.*的系統結構平臺，全數字化系統。4.可同時安裝能譜儀、波譜儀和EBSP系...

摘要 掃描電鏡在電氣、電子、汽車，機械，化學和制藥工業等領域被廣泛應用

摘要 Apreo 革命性的復合透鏡設計結合了靜電和磁浸沒技術，可產生的高分辨率和信號選擇。這使得 Apreo 成為研究納米顆粒、催化劑、粉末和納米器件的理想平臺，并且不會降低磁性樣品性能。

摘要 Talos™ 是新一代 TEM 產品，致力于讓用戶迅速訪問二維和三維數據，從而專注于研究發現。Talos 的配置適合開展材料研究和生命科學研究，是一款融合了眾多創新技術的多功能系統，能夠在未來數年里滿足您的研究需求。

摘要自 2005 年推出以來，Titan 便憑借優異的產品設計以及其被證明能夠帶來突破性工作成果的能力，成為**研究人員**的掃描/透射電子顯微鏡 (S/TEM)。FEI 的 Titan S/TEM 平臺一直在發展演變，現如今，Titan TEM 系列涵蓋 Titan&t...

摘要 專門為電子束敏感樣品和需300萬倍穩定觀察的*半導體器件，高分辨成像所設計

摘要 “*的SEM更為緊湊”寬幅僅為45cm的緊湊型的設計，仍具備4.0nm的圖像分辨率

摘要 高畫質的鎢燈絲掃描電鏡,圖象質量更進一步

摘要 特點：實現了高掃描透射像(STEM-HAADF)分辨率JEM-ARM300F配備了JEOL自主研發的球差校正器，加速電壓可達300kV，是一款原子級分辨率電子顯微鏡

摘要 以節能環保、減排低碳為理念開發的JEM-F200場發射透射電子顯微鏡，不僅提高了空間分辨率和分析性能，還采用了新的操作系統可滿足多種使用途徑，易用性強，外觀設計精煉，能為不同層次的用戶提供新奇的操作體驗

摘要 場發射冷凍電子顯微鏡JEM-Z300FSC(CRYOARM™300)配備了冷場發射電子槍、柱體內能量過濾器(Ω能量過濾器)、側插式液氮冷卻樣品臺和自動樣品交換系統，能夠在冷凍低溫下觀察生物大分子

摘要 專用掃描透射顯微鏡HD-2700，配備了與德國CEOSGmbH公司（總經理MaxHaider先生）共同開發的球差校正儀，顯著提高了掃描透射電子顯微鏡的性能，更適合高級納米技術研究

摘要 TheTalosL120CTEM的平臺式設計具備了模塊多功能化，的穩定性及操作的便捷性，從而提供可靠的成像性能

摘要 立高新超高分辨率場發射掃描電子顯微鏡SU9000是專門為電子束敏感樣品和需300萬倍穩定觀察的*半導體器件，高分辨成像所設計

摘要 "Regulus系列"是日立*的FE-SEM的全新品牌，包括作為SU8010的后續機型開發的"Regulus8100"以及SU8200系列的升級"Regulus8220""Regulus8230""Regulus8240"，共4個機型，均實現了分辨率和操作性的強化

摘要 日立高新高畫質的鎢燈絲掃描電鏡SU3500,圖象質量更進一步