摘要 GeminiSEM 系列產品——高對比度、低電壓成像的場發射掃描電子顯微鏡，為對任意樣品進行高水準的成像和分析而生。...

摘要EVO 18 Research 是學術和研究機構使用的一款分析型掃描電子顯微鏡。EVO 18 Research 為您提供優異的成像品質，具有處理多種材料的能力。結合SmartSEM 軟件的易用性，使其成為多種研究應用的合適之選，范圍涵蓋半導體和電子技術、地質科學及材料...

摘要 Sigma 系列產品用于高品質成像與高級分析的場發射掃描電子顯微鏡,Sigma 半自動的4步工作流程節省大量的時間：設置成像與分析步驟，提高效率。...

摘要 蔡司聚焦離子束掃描電子顯微鏡（FIB-SEM）將 GEMINI 電子束（e-Beam）鏡筒的三維成像和分析性能與用于納米級材料加工和樣品制備的聚焦離子束結合在一起。...

摘要場發射掃描電子顯微鏡Regulus8200（冷場）（日立）Regulus系列是日立*的FE-SEM的全新品牌，包括作為SU8010的后續機型開發的Regulus8100以及SU8200系列的升級Regulus8220Regulus8230Regulus8240，共4個...

摘要 日立高新掃描電子顯微鏡FlexSEM1000日立*公司于2016年4月15日在發布了新型掃描電子顯微鏡——FlexSEM1000

摘要 日立透射電子顯微鏡HT7800系列、·日立的雙隙物鏡設計

摘要 日立H-9500透射電子顯微鏡在精細加工技術已進入到亞納米級水平的半導體，*材料的研發領域，原子分辨率電子顯微鏡正在成為日益重要的，*的工具

摘要日立場發射掃描電子顯微鏡REGULUS8200（冷場）日立新型冷場發射掃描電鏡Regulus8200系列是集高分辨觀察和大束流分析與一體的掃描電鏡.Regulus8200冷場掃描電鏡不僅*秉承以往冷場發射掃描電鏡的全部優點,還大幅提高了探針電流,并極大增強了電流的穩定...

摘要 日立S-3400N二手掃描電子顯微鏡出租1. S-3400N具有強大的自動功能，包括自動燈絲飽和、4偏壓、自動槍對中、自動束流設定、自動合軸自動聚焦和消像散、自動亮度對比度等。2. 在3kV低加速電壓時保證有10nm的分辨率。

摘要 日本尼康Z1000體視顯微鏡綜合了光學性能，擴展性和人機學的體視顯微鏡Z1000作為尼康Z體視顯微鏡機型之一，有力地整合了光學特性和人機學設計。通過高數值孔徑的物鏡和尼康專有的照明，Z1000提供了很多成像技術。詳情介紹

摘要 日立S-3400N二手掃描電子顯微鏡租賃1. S-3400N具有強大的自動功能，包括自動燈絲飽和、4偏壓、自動槍對中、自動束流設定、自動合軸自動聚焦和消像散、自動亮度對比度等。

摘要 日立S-3400N二手掃描電子顯微鏡出租1. S-3400N具有強大的自動功能，包括自動燈絲飽和、4偏壓、自動槍對中、自動束流設定、自動合軸自動聚焦和消像散、自動亮度對比度等。2. 在3kV低加速電壓時保證有10nm的分辨率。

摘要 電子顯微鏡

摘要日立熱場發射掃描電鏡SU7000：此次推出的SU7000采用全新設計的探測器，使得對二次電子信號、背散射電子信號的檢測以及分離能力大大提升。以前我們要根據獲得的信號來調整樣品與透鏡之間的距離（工作距離／以下簡稱WD），以設置的觀察與分析條件，而SU7000通過新研發的...

摘要 日本UNION高倍率工業顯微鏡，在非接觸光學方法下檢測焦點時，可在不受試樣物理損傷影響的情況下進行測量，如變形、沖擊或刻痕等。廣泛應用于半導體行業的焊縫精密測量

摘要 高分辨率掃描電子顯微鏡SEM-200具有3nm分辨率能力和競爭力的掃描電鏡價格,廣泛用于科研單位使用

摘要 這款臺式掃描電子顯微鏡ScanningElectronMicroscope是為客戶提供的歐洲性價比掃描電鏡，*改變了動輒百萬人民幣的電鏡價格，它為用戶提供低價亞微米和納米尺度的SEM電鏡和電子顯微鏡工具，是的掃描電鏡品牌

摘要用途：場發射環境掃描電鏡，配備能譜儀和冷臺。掃描電鏡和能譜儀，可用于測試各種材料，如金屬材料、高分子材料、無機材料（礦物、巖土、甚至含水分材料）等的樣品表面二次電子形貌信息，背散射電子組分區分，能譜元素成分分析。結合冷臺，可通過控制樣品室內溫度和濕度，模擬環境測試樣品...

摘要 新型Prisma E掃描電子顯微鏡（SEM）將各種成像和分析模式與新的*自動化相結合，為同類產品提供最完整的解決方案。它非常適用于需要高分辨率，樣品靈活性和易于使用的操作界面的工業研發，質量控制和故障分析應用。Prisma E成功獲得了極為成功的Quanta SEM。

摘要 尼康Nikon Z645立體顯微鏡出售尼康的Z645和660體視顯微鏡，在保證光學性能的前提下實現了位。整個設計采用了尼康的3A設計 （Airtight氣密, Anti-mold防霉， Anti-electrostatic） ，可在操作環境下保證的性能。

摘要 尼康L200N金相顯微鏡出售擴大檢查范圍的反射熒光觀察（L200ND）新反射照明觀察，除可進行明場、暗場、微分干涉觀察之外，更可進行UV（365nm）激發的反射熒光觀察。對于半導體感光薄膜的殘渣、EL顯示面板的觀察發揮了很大的威力。

摘要 日本尼康Z1000體視顯微鏡出售綜合了光學性能，擴展性和人機學的體視顯微鏡Z1000作為尼康Z體視顯微鏡機型之一，有力地整合了光學特性和人機學設計。通過高數值孔徑的物鏡和尼康專有的照明，Z1000提供了很多成像技術。詳情介紹

摘要蔡司 Carl Zeiss電子顯微鏡，GeminiSEM系列——高分辨，不挑樣長久以來，蔡司場發射掃描電鏡GeminiSEM一直是高分辨力與寬樣品適用性的代名詞。無論您從事的研究方向是什么，GeminiSEM都可以滿足您的需求。創新的電子光學系統和新型樣品腔室設計可讓...

摘要 顯微鏡是由一個透鏡或幾個透鏡的組合構成的一種光學儀器，是人類進入原子時代的標志

摘要 顯微鏡是由一個透鏡或幾個透鏡的組合構成的一種光學儀器，是人類進入原子時代的標志

摘要 顯微鏡是由一個透鏡或幾個透鏡的組合構成的一種光學儀器，是人類進入原子時代的標志

摘要 顯微鏡是由一個透鏡或幾個透鏡的組合構成的一種光學儀器，是人類進入原子時代的標志

摘要蔡司GeminiSEM系列高對比度、低電壓成像的場發射掃描電子顯微鏡　　具有出色的探測效率，能夠輕松地實現亞納米分辨成像。無論是在高真空還是在可變壓力模式下，更高的表面細節信息靈敏度讓您在對任意樣品進行成像和分析時都具備更佳的靈活性，為您在材料科學研究、生命科學研究、...

摘要MACOM II®，該主動磁場補償系統來自Müller-BBM的MACOM II&amp...

摘要 SEM+EDS掃描電子顯微鏡

摘要 簡單介紹： EM-30AX PLUS 臺式電鏡

摘要 簡單介紹： 臺式電鏡EM 30 PLUS

摘要蔡司掃描電鏡--常規鎢燈絲掃描電子顯微鏡的低電壓性能，全面兼容臺式電鏡所無法兼容的更多樣品　　臺式電鏡的*低電壓只能到5kV， 其低電壓性能非常有限， 無法兼容大多數不導電樣品的檢測需求。 而蔡司常規鎢燈絲掃描電鏡具有0.2-30kV的加速電壓以及0.5pA-5uA的...

摘要 日立掃描電子顯微鏡

摘要 掃描電子顯微鏡

摘要日新NEM株式會社9320-1柯達電子顯微鏡膠片4489 K1 / 29300-1富士電子顯微鏡膠片FG K1 / 28.210011.8厘米輸入9300-2富士電子顯微鏡膠片FG K1 / 45.91008.2厘米輸入9320-1柯達電子顯微鏡膠片4489 K1 /...

摘要日新NEM株式會社9300-1富士電子顯微鏡膠片FG K1 / 29400-1攝影紙Fujiburo WP-FM2大Kabine 50輸入9400-2攝影紙Fujiburo WP-FM2六關20 ON9401-1攝影紙Fujiburo WP-FM3大Kabine 50...

摘要 日新NEM株式會社電子顯微鏡膠片顯影罐NEM-D5型　8100電子顯微鏡膠片顯影罐NEM-D5型　8102電子顯微鏡對發展中國家罐TB-3-75B型　8103電子顯微鏡對發展中國家罐TB-5-85B型※811 亞克力膜架

摘要 日新NEM電子顯微鏡用品耗材N95顆粒3M1870其他樣品使用，如校正，金屬拋光和油脂的維修設備的放大倍率，我們提供在工作時的防護手套和護目鏡。

摘要 日新NEM電子顯微鏡用品耗材1311防護眼鏡UVEX其他樣品使用，如校正，金屬拋光和油脂的維修設備的放大倍率，我們提供在工作時的防護手套和護目鏡。

摘要 日新NEM電子顯微鏡用品耗材122聚乙烯手套其他樣品使用，如校正，金屬拋光和油脂的維修設備的放大倍率，我們提供在工作時的防護手套和護目鏡。

摘要 日新NEM電子顯微鏡用品耗材1104分解能測定用金粒子　汎用日新NEM電子顯微鏡用品耗材121棉手套其他樣品使用，如校正，金屬拋光和油脂的維修設備的放大倍率，我們提供在工作時的防護手套和護目鏡。

摘要 日新NEM電子顯微鏡用品耗材ＳＥＭ用試料109日新NEM電子顯微鏡用品耗材121棉手套其他樣品使用，如校正，金屬拋光和油脂的維修設備的放大倍率，我們提供在工作時的防護手套和護目鏡。

摘要 日新NEM電子顯微鏡用品耗材1082硫化モリブデン １枚入日新NEM電子顯微鏡用品耗材121棉手套其他樣品使用，如校正，金屬拋光和油脂的維修設備的放大倍率，我們提供在工作時的防護手套和護目鏡。