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環(huán)境條件相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)目錄2008/12/30: 1.GB11804-89電工電子產(chǎn)品環(huán)境條件術(shù)語2.GB4796-84電工電子產(chǎn)品環(huán)境參數(shù)分類及其嚴(yán)酷程度分級3.GB4797.1-84電工電子產(chǎn)品自然環(huán)境條件溫度和濕度4.GB4797.2-86電工電子產(chǎn)品自然環(huán)境條件海撥與氣壓、水深與水壓5.GB4797.3-86電工電子產(chǎn)品自然環(huán)境條件生物6.GB4797.4-89電工電子產(chǎn)品自然環(huán)境條件太陽輻射與溫度7.GB/T4794.5-92電工電子產(chǎn)品自然環(huán)境條件降水和風(fēng)8.GB/T4797.6-1995電工電子產(chǎn)品自然環(huán)境條件塵、沙、鹽霧9.GB

環(huán)境試驗設(shè)備產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)目錄2008/12/30: 1.GB10586-89濕熱試驗箱技術(shù)條件2.GB10587-89鹽霧試驗箱技術(shù)條件3.GB10588-89長霉試驗箱技術(shù)條件4.GB10590-89低溫/低氣壓試驗箱技術(shù)條件5.GB10591-89高溫/低氣壓試驗箱技術(shù)條件6.GB10592-89高、低溫試驗箱技術(shù)條件7.GB11158-89高溫試驗箱技術(shù)條件8.GB11159-89低氣壓試驗箱技術(shù)條件9.JB/T5520-91干燥箱技術(shù)條件10.JB/T5377-91恒溫水槽技術(shù)條件11.JB/T5376-91低溫恒溫槽技術(shù)條件12.JB/

環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法標(biāo)準(zhǔn)目錄2008/12/30: 1.GB/T5170.1-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法總則2.GB/T5170.2-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗設(shè)備3.GB/T5170.5-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法濕熱試驗設(shè)備4.GB/T5170.8-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法鹽霧試驗設(shè)備5.GB/T5170.9-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法太陽輻射試驗設(shè)備6.GB/T5170.10-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方

環(huán)境試驗標(biāo)準(zhǔn)目錄2008/12/30: 1.GB/T2421-1999電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第1部分:總則2.GB/T2422-1995電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗術(shù)語3.GB/T2423.1-1989電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗A:低溫試驗方法4.GB/T2423.2-1989電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗B:高溫試驗方法5.GB/T2423.3-1993電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Ca:恒定濕熱試驗方法6.GB/T2423.4-1993電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程試驗Db:交變濕熱試驗方法7.GB/T2423.5-1995電工電子

環(huán)境試驗與環(huán)境試驗設(shè)備相關(guān)其他(基礎(chǔ))標(biāo)準(zhǔn)目錄2008/12/30: 1.GB11605-89濕度測量方法2.GB191-2000包裝儲運圖示標(biāo)志3.GB6999-86環(huán)境試驗用相對濕度查算表4.GB7248-87電光源的安全要求5.GB9706.1-1995醫(yī)用電氣設(shè)備第1部分:安全通用要求6.GB/T13264-91不合格品率的小批計數(shù)抽樣檢查程序及抽樣表7.JB/T7461-94實驗室儀器產(chǎn)品檢驗規(guī)則8.JJF1059-1999測量不確定度評定與表示9.Q/WD007-2001環(huán)境試驗設(shè)備包裝技術(shù)條件10.Q/WD008-2001環(huán)境試驗設(shè)備包裝箱

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