美國semisonsoft公司的薄膜測厚儀測量厚度可以低至1nm，厚至1mm，埃級分辨率，非接觸式無損快速測量。廣泛的應用與各種生產或研究中，比如測量薄膜太陽能電池的CIGS層，觸摸屏中的ITO層等。大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩定的被測量。比如：半導體（硅，單晶硅，多晶硅）半導體化合物（AlGaAs,InGaAs，CdTe,CIGS）微電子機械（MEMS）氧化物/氮化物光刻膠硬涂層（碳化...
| 公司名稱 | 上海全耀儀器設備有限公司 |
成立日期 | 2013年06月09日【已認證】 |
| 注冊資本 | 人民幣100萬元【已認證】 |
法定代表人 | 黃芳珍【已認證】 |
| 注冊號 | 913101170711692259【已認證】 |
營業期限 | 2013年06月09日-【已認證】 |
| 登記機關 | 嘉定區市場監督管理局【已認證】 |
企業類型 | 有限責任公司（自然人獨資）【已認證】 |
| 經營范圍 | 儀器儀表、電子產品、電控自動化設備、機械設備及配件、計算機軟硬件及配件（除計算機信息系統安全專用產品）、機電設備及配件、實驗室耗材批發零售；儀器儀表維護，商務信息咨詢，企業營銷策劃。【依法須經批準的項目，經相關部門批準后方可開展經營活動】【已認證】 |
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