PCT老化箱（又名PCT高壓加速老化試驗機）主要是測試半導體封裝之濕氣能力，待測產品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試，濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體，常見之故障方式為主動金屬化區域腐蝕造成之斷路，或封裝體引腳間因污染造成短路等。PCT老化試驗箱產品簡介1.PCT老化箱采用優化設計,美觀大方，做工精細。2.采用大容量水箱,試驗時間長,不中斷。3.采用日本“SHIMAX”智能溫控器，具有精度高，控制穩定特點（依客戶需要也可選擇采用觸摸屏為4.3寸真彩屏，USB曲線數據下載功能，和通訊功能）。PCT老化試驗箱產品應用廣泛應用于線路板,多層線路板,IC,LCD,磁鐵等產品之密封性能的檢詳情>>
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