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產(chǎn)品分類品牌

國產(chǎn)半導(dǎo)體晶圓表面形貌測量系統(tǒng) 參考價(jià)：面議

參考價(jià)：面議型號：WD4000
WD4000國產(chǎn)半導(dǎo)體晶圓表面形貌測量系統(tǒng)兼容不同材質(zhì)不同粗糙度、可測量大翹曲wafer、測量晶圓雙面數(shù)據(jù)更準(zhǔn)確。它采用白光光譜共焦多傳感器和白光干涉顯微測量雙...
型號： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對比

半導(dǎo)體晶圓測量系統(tǒng)晶圓形貌測量系統(tǒng)無圖晶圓幾何量測系統(tǒng)晶圓測量系統(tǒng)晶圓檢測設(shè)備

2025/3/9 19:29:44968
晶圓厚度翹曲度粗糙度檢測設(shè)備參考價(jià)：面議

參考價(jià)：面議型號：WD4000
WD4000晶圓厚度翹曲度粗糙度檢測設(shè)備采用白光光譜共焦多傳感器和白光干涉顯微測量雙向掃描技術(shù)，完成非接觸式掃描并建立表面3D層析圖像，實(shí)現(xiàn)Wafer厚度、翹曲...
型號： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對比

晶圓厚度檢測設(shè)備晶圓翹曲度檢測設(shè)備晶圓粗糙度檢測設(shè)備晶圓檢測設(shè)備無圖晶圓幾何量測系統(tǒng)

2025/3/9 18:46:241068
半導(dǎo)體晶圓Warp翹曲度量測設(shè)備參考價(jià)：面議

參考價(jià)：面議型號：WD4000
WD4000半導(dǎo)體晶圓Warp翹曲度量測設(shè)備通過非接觸測量，將晶圓的三維形貌進(jìn)行重建，強(qiáng)大的測量分析軟件穩(wěn)定計(jì)算晶圓厚度，TTV，BOW、WARP、在高效測量測...
型號： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對比

半導(dǎo)體晶圓量測設(shè)備晶圓翹曲度量測設(shè)備晶圓Warp量測設(shè)備無圖晶圓幾何量測系統(tǒng)晶圓形貌量測系統(tǒng)

2025/3/9 18:25:09963
晶圓幾何形貌檢測機(jī) 參考價(jià)：面議

參考價(jià)：面議型號：WD4000
WD4000晶圓幾何形貌檢測機(jī)可測各類包括從光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級別工件的厚度、粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。自動(dòng)測量...
型號： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對比

半導(dǎo)體晶圓檢測晶圓檢測機(jī)晶圓檢測設(shè)備無圖晶圓幾何量測系統(tǒng)晶圓幾何形貌測量機(jī)

2025/3/9 17:53:551029
晶圓厚度Warp檢測設(shè)備參考價(jià)：面議

參考價(jià)：面議型號：WD4000系列
WD4000晶圓厚度Warp檢測設(shè)備自動(dòng)測量 Wafer 厚度、表面粗糙度、三維形貌、單層膜厚、多層膜厚。使用光譜共焦對射技術(shù)測量晶圓 Thickness、TT...
型號： WD4000系列品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對比

半導(dǎo)體晶圓檢測設(shè)備晶圓厚度檢測設(shè)備晶圓Warp檢測設(shè)備無圖晶圓幾何量測設(shè)備晶圓形貌檢測設(shè)備

2025/3/9 17:15:181132
WD4000無圖晶圓形貌檢測設(shè)備參考價(jià)：面議

參考價(jià)：面議型號：WD4000系列
WD4000無圖晶圓形貌檢測設(shè)備兼容不同材質(zhì)不同粗糙度、可測量大翹曲wafer、測量晶圓雙面數(shù)據(jù)更準(zhǔn)確。可實(shí)現(xiàn)砷化鎵、氮化鎵、磷化鎵、鍺、磷化銦、鈮酸鋰、藍(lán)寶石...
型號： WD4000系列品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對比

半導(dǎo)體晶圓檢測晶圓形貌檢測設(shè)備廠家晶圓檢測儀晶圓外觀檢測設(shè)備無圖晶圓幾何量測系統(tǒng)

2025/3/9 16:42:48748
晶圓幾何量測機(jī) 參考價(jià)：面議

參考價(jià)：面議型號：WD4000
WD4000晶圓幾何量測機(jī)通過非接觸測量，將晶圓的三維形貌進(jìn)行重建，強(qiáng)大的測量分析軟件穩(wěn)定計(jì)算晶圓厚度，TTV，BOW、WARP、在高效測量測同時(shí)有效防止晶圓產(chǎn)...
型號： WD4000 品牌：其他品牌所在地：深圳市 對比

無圖晶圓幾何量測系統(tǒng)晶圓幾何量測設(shè)備晶圓幾何形貌測量機(jī)晶圓檢測設(shè)備半導(dǎo)體晶圓量測機(jī)

2025/3/9 16:08:43725
無圖晶圓三維形貌測量儀參考價(jià)：面議

參考價(jià)：面議型號：WD4000
中圖儀器WD4000無圖晶圓三維形貌測量儀可實(shí)現(xiàn)砷化鎵、氮化鎵、磷化鎵、鍺、磷化銦、鈮酸鋰、藍(lán)寶石、硅、碳化硅、玻璃不同材質(zhì)晶圓的量測。它通過非接觸測量，將晶圓...
型號： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對比

無圖晶圓幾何量測系統(tǒng)晶圓三維形貌測量儀晶圓形貌測量設(shè)備晶圓檢測設(shè)備無圖晶圓形貌測量儀

2025/3/9 14:59:00892
半導(dǎo)體晶圓形貌檢測設(shè)備參考價(jià)：面議

參考價(jià)：面議型號：WD4000
中圖儀器WD4000半導(dǎo)體晶圓形貌檢測設(shè)備采用高精度光譜共焦傳感技術(shù)、光干涉雙向掃描技術(shù)，完成非接觸式掃描并建立3D Mapping圖，通過非接觸測量，將晶圓的...
型號： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對比

無圖晶圓幾何量測系統(tǒng)晶圓幾何量測設(shè)備晶圓檢測設(shè)備晶圓形貌測量設(shè)備半導(dǎo)體檢測設(shè)備

2025/3/9 14:23:08980
晶圓翹曲度測試設(shè)備參考價(jià)：面議

參考價(jià)：面議型號：WD4000
WD4000晶圓翹曲度測試設(shè)備兼容不同材質(zhì)不同粗糙度、可測量大翹曲wafer、測量晶圓雙面數(shù)據(jù)更準(zhǔn)確。它采用白光光譜共焦多傳感器和白光干涉顯微測量雙向掃描技術(shù)，...
型號： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對比

晶圓測試設(shè)備晶圓翹曲度測試設(shè)備翹曲度檢測設(shè)備晶圓翹曲度測量設(shè)備晶圓幾何量測設(shè)備

2025/3/9 13:18:591019
半導(dǎo)體晶圓幾何量測設(shè)備參考價(jià)：面議

參考價(jià)：面議型號：WD4000
中圖儀器WD4000半導(dǎo)體晶圓幾何量測設(shè)備可實(shí)現(xiàn)砷化鎵、氮化鎵、磷化鎵、鍺、磷化銦、鈮酸鋰、藍(lán)寶石、硅、碳化硅、玻璃不同材質(zhì)晶圓的量測。通過非接觸測量，將晶圓的...
型號： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對比

無圖晶圓幾何量測系統(tǒng)晶圓幾何量測設(shè)備半導(dǎo)體晶圓量測設(shè)備晶圓幾何形貌量測設(shè)備晶圓形貌測量設(shè)備

2025/3/9 12:39:57791
晶圓形貌測量儀器參考價(jià)：面議

參考價(jià)：面議型號：WD4000
中圖儀器WD4000晶圓形貌測量儀器通過非接觸測量，將晶圓的三維形貌進(jìn)行重建，強(qiáng)大的測量分析軟件穩(wěn)定計(jì)算晶圓厚度，TTV，BOW、WARP、在高效測量測同時(shí)有效...
型號： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對比

無圖晶圓幾何量測系統(tǒng)晶圓幾何形貌量測系統(tǒng)晶圓形貌測量設(shè)備半導(dǎo)體晶圓檢測晶圓形貌檢測

2025/3/9 12:14:52934
晶圓表面形貌測量系統(tǒng) 參考價(jià)：面議

參考價(jià)：面議型號：WD4000
WD4000系列晶圓表面形貌測量系統(tǒng)采用高精度光譜共焦傳感技術(shù)、光干涉雙向掃描技術(shù)，完成非接觸式掃描并建立3D Mapping圖，實(shí)現(xiàn)晶圓厚度、TTV、LTV、...
型號： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對比

無圖晶圓幾何量測系統(tǒng)晶圓形貌測量設(shè)備半導(dǎo)體晶圓測量設(shè)備晶圓形貌測量設(shè)備晶圓表面形貌測量系統(tǒng)

2025/3/9 11:28:501257
晶圓三維形貌量測系統(tǒng) 參考價(jià)：面議

參考價(jià)：面議型號：WD4000
WD4000晶圓三維形貌量測系統(tǒng)可廣泛應(yīng)用于襯底制造、晶圓制造、及封裝工藝檢測、3C 電子玻璃屏及其精密配件、光學(xué)加工、顯示面板、MEMS 器...
型號： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對比

晶圓三維形貌測量系統(tǒng)晶圓幾何量測系統(tǒng)無圖晶圓形貌測量系統(tǒng)半導(dǎo)體晶圓測量系統(tǒng)晶圓形貌測量設(shè)備

2025/3/9 10:50:501363
半導(dǎo)體晶圓厚度測量系統(tǒng) 參考價(jià)：面議

參考價(jià)：面議型號：WD4000
WD4000半導(dǎo)體晶圓厚度測量系統(tǒng)自動(dòng)測量Wafer厚度、表面粗糙度、三維形貌、單層膜厚、多層膜厚。通過非接觸測量，將晶圓的三維形貌進(jìn)行重建，強(qiáng)大的測量分析軟件...
型號： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對比

晶圓厚度測量系統(tǒng)半導(dǎo)體測量系統(tǒng)半導(dǎo)體晶圓測量系統(tǒng)無圖晶圓幾何量測系統(tǒng)半導(dǎo)體測量設(shè)備

2025/3/9 10:16:521214
晶圓形貌量測設(shè)備參考價(jià)：面議

參考價(jià)：面議型號：WD4000
WD4000晶圓形貌量測設(shè)備采用高精度光譜共焦傳感技術(shù)、光干涉雙向掃描技術(shù)，完成非接觸式掃描并建立3D Mapping圖，實(shí)現(xiàn)晶圓厚度、TTV、LTV、Bow、...
型號： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對比

晶圓形貌測量設(shè)備晶圓形貌測量系統(tǒng)晶圓量測設(shè)備半導(dǎo)體晶圓量測設(shè)備半導(dǎo)體晶圓量測系統(tǒng)

2025/3/9 9:56:331204
半導(dǎo)體晶圓形貌測量系統(tǒng) 參考價(jià)：面議

參考價(jià)：面議型號：WD4000
WD4000半導(dǎo)體晶圓形貌測量系統(tǒng)采用高精度光譜共焦傳感技術(shù)、光干涉雙向掃描技術(shù)，完成非接觸式掃描并建立3D Mapping圖，實(shí)現(xiàn)晶圓厚度、TTV、LTV、B...
型號： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對比

半導(dǎo)體晶圓檢測設(shè)備晶圓形貌測量系統(tǒng)晶圓形貌檢測設(shè)備晶圓測量系統(tǒng)無圖晶圓幾何量測系統(tǒng)

2025/3/9 9:29:441015
無圖晶圓幾何形貌量測系統(tǒng) 參考價(jià)：面議

參考價(jià)：面議型號：WD4000
中圖儀器WD4000無圖晶圓幾何形貌量測系統(tǒng)自動(dòng)測量Wafer厚度、表面粗糙度、三維形貌、單層膜厚、多層膜厚。它采用白光光譜共焦多傳感器和白光干涉顯微測量雙向掃...
型號： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對比

無圖晶圓幾何量測系統(tǒng)晶圓幾何形貌量測系統(tǒng)無圖晶圓形貌量測系統(tǒng)晶圓形貌量測系統(tǒng)半導(dǎo)體晶圓量測系統(tǒng)

2025/3/9 8:48:531167
晶圓表面形貌檢測設(shè)備參考價(jià)：面議

參考價(jià)：面議型號：WD4000
中圖儀器WD4000晶圓表面形貌檢測設(shè)備自動(dòng)測量Wafer厚度、表面粗糙度、三維形貌、單層膜厚、多層膜厚。通過非接觸測量，將晶圓的三維形貌進(jìn)行重建，強(qiáng)大的測量分...
型號： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對比

晶圓檢測設(shè)備晶圓形貌檢測設(shè)備晶圓表面形貌檢測設(shè)備半導(dǎo)體晶圓檢測設(shè)備無圖晶圓幾何量測系統(tǒng)

2025/3/9 8:00:331295
無圖晶圓幾何測量系統(tǒng) 參考價(jià)：面議

參考價(jià)：面議型號：WD4000
WD4000系列無圖晶圓幾何測量系統(tǒng)采用高精度光譜共焦傳感技術(shù)、光干涉雙向掃描技術(shù)，完成非接觸式掃描并建立3D Mapping圖，實(shí)現(xiàn)晶圓厚度、TTV、LTV、...
型號： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對比

晶圓幾何測量系統(tǒng)無圖晶圓測量系統(tǒng)晶圓表面形貌測量系統(tǒng)晶圓測量設(shè)備晶圓幾何檢測機(jī)

2025/3/8 21:56:08872
晶圓幾何形貌測量設(shè)備參考價(jià)：面議

參考價(jià)：面議型號：WD4000
WD4000晶圓幾何形貌測量設(shè)備通過非接觸測量，將晶圓的三維形貌進(jìn)行重建，強(qiáng)大的測量分析軟件穩(wěn)定計(jì)算晶圓厚度，TTV，BOW、WARP、在高效測量測同時(shí)有效防止...
型號： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對比

晶圓測量設(shè)備晶圓形貌測量設(shè)備晶圓檢測機(jī)晶圓幾何形貌測量系統(tǒng)無圖晶圓測量設(shè)備

2025/3/8 21:30:241075
晶圓表面三維形貌測量設(shè)備參考價(jià)：面議

參考價(jià)：面議型號：WD4000
WD4000晶圓表面三維形貌測量設(shè)備集成厚度測量模組和三維形貌、粗糙度測量模組，使用一臺機(jī)器便可完成厚度、TTV、LTV、BOW、WARP、粗糙度、及三維形貌的...
型號： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對比

晶圓形貌測量設(shè)備晶圓三維形貌測量設(shè)備無圖晶圓幾何量測系統(tǒng)晶圓表面測量設(shè)備半導(dǎo)體晶圓檢測

2025/3/8 20:29:221206
WD4000無圖晶圓檢測機(jī) 參考價(jià)：面議

參考價(jià)：面議型號：
WD4000無圖晶圓檢測機(jī)可廣泛應(yīng)用于襯底制造、晶圓制造、及封裝工藝檢測、3C電子玻璃屏及其精密配件、光學(xué)加工、顯示面板、MEMS器件等超精密加工行業(yè)。可測各類...
型號：品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對比

無圖晶圓檢測機(jī)晶圓檢測設(shè)備半導(dǎo)體晶圓檢測晶圓檢測設(shè)備廠商晶圓檢測機(jī)

2025/3/8 20:23:001080
WD4000無圖晶圓幾何量測系統(tǒng) 參考價(jià)：面議

參考價(jià)：面議型號：
WD4000無圖晶圓幾何量測系統(tǒng)自動(dòng)測量 Wafer 厚度、表面粗糙度、三維形貌、單層膜厚、多層膜厚。可廣泛應(yīng)用于襯底制造、晶圓制造、及封裝工藝...
型號：品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對比

晶圓檢測機(jī)無圖晶圓幾何量測系統(tǒng)晶圓檢測設(shè)備廠商晶圓表面檢測機(jī)國產(chǎn)晶圓檢測機(jī)

2025/3/8 20:12:311158

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深圳市中圖儀器股份有限公司

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