摘要 詳細信息1.產品簡介　　激光干涉儀以光波為載體，其光波波長可以直接對米進行定義，且可以溯源至國家標準，是迄今的高精度、高靈敏度的測量儀器，在制造領域應用廣泛

摘要 API XD激光干涉儀可以一次裝夾測量六個參數包括定位精度、重復定位精度、直線度及角度。用于數控機床和三座標測量機的標定及校準。通常時間需數天進行的測試，使用API激光干涉儀只需幾個小時即可完成。實際應用結果表明：可節省時間高達80%。

摘要 XL-80系統快速、精確，而且非常輕便，因此它成為銷量*好的激光校準系統絲毫不足為奇。XL-80采用*的軟件解決方案，具有優異的性能，可以幫助您顯著提高企業效益。

摘要 英國雷尼紹激光干涉儀 高精度校準測量儀雷尼紹激光干涉儀XL80憑借精確穩定的激光源和精準的環境補償技術，實現了±0.5 ppm的高線性測量精度。其數據讀取頻率高達50 kHz，線性測量速度更可達4 m/s，即便在高速狀態下，線性分辨率仍能保持1nm。

摘要 具有QPSI測量模式，能夠在振動環境中檢測，真正的共光路面形計量干涉儀。

摘要XD激光干涉儀1D激光主要可以測量定位誤差和重復定位精度3D激光可以測量定位誤差、直線度誤差（雙向）5D/6D激光可以測量定位誤差、直線度誤差（雙向）、偏擺角、俯仰角和滾動角在選擇無線遙控傳感器的情況下，*長的測量距離可到45米（80米可選）。可測量速度、加速度、振動...

摘要關鍵特征:?在空氣湍流和振動的環境下進行動態測量?優化的光學系統提供了清晰可見的中間空間頻率特征?LivePhase?軟件可以進行實時Zernike分析[見影像]?Movie模式獲取隨時間變化的波前?高功率，長壽命穩頻氦氖激光器新型的ZYGODynaFiz?激光干涉儀...

摘要 大口徑激光干涉儀由4英寸激光干涉儀主機經過擴束為大口徑系統，通常為雙通道，即4英寸測量通道和大口徑測量通道，具有多種高精度測量模式，如相位調制、波長調制、動態測量等

摘要專為機床測校用戶開發通用型高精度激光干涉儀采用單頻激光，雙縱模穩頻技術緊湊設計，適合外出服務攜帶自動環境補償，不同溫度、濕度、壓力環境中也能精確檢測直觀的測量及分析軟件，輕松完成各種復雜的機床檢測工作單頻激光干涉儀采用單頻測量技術，擁有自主知識產權，技術指標達到或優于...

摘要 產品描述：高靈敏度，不需要靶鏡，非接觸式測量可測的微、小、輕、薄、黑、透、易變形、熱表面對被測物表面反射率無嚴格要求，可測“黑”表面采用激光自干涉原理，測量結果可溯源無外部光學器件，操作靈活方便可非接觸測量物體的位移、振動，以及材料膨脹系數等

摘要 雙頻激光干涉儀是在單頻激光干涉儀的基礎上發展而來的一種外差式干涉儀

摘要 XDLaser激光干涉儀是API公司的產品，一次安裝即可測得6個參數，包括1個位置度誤差、2個直線度誤差和3個角度誤差

摘要 用途和特點：XQ15-G3實用型激光平面干涉儀在保留XQ15-G1激光平面干涉儀的用途及特點的狀況下，更具實用性，可更廣泛適用于大批量生產單位的生產車間

摘要 用途:本司自行設計、制作的XQ60-G1型便攜式激光平面干涉儀近期己完成樣機的總裝與調試

摘要 用途和特點：XQ15-G2數字式激光平面干涉儀可廣泛適用于計量實驗室對高精度平面的平面度檢測和鑒定

摘要 用途：XQ15-G1激光平面干涉儀可廣泛用于工廠的計量室、光學車間和科研院所的實驗室

摘要 1、激光平面干涉儀的主要用途和特點

摘要 天津XL-80激光干涉儀系統雷尼紹XL-80激光干涉儀為坐標測量機(CMM)和機床等運動系統提供高性能測量和校準

摘要 Bosch GTL3 激光校準儀項目90度線的平方。這些行位于激光基地，Bosch GTL3 激光校準儀為您提供精確的調節，易于定心過點的前面。這墻/地板覆蓋激光利用璀璨奪目和高度可見的激光線，以確保您進行每次測量是準確的。

摘要 激光干涉儀采用相移技術準確表征被測表面的三維形貌，測量精度 Pv 高達 0.06μm 甚至更高，廣泛用于平面光學元件高精度檢測。

摘要 激光干涉儀采用相移技術準確表征被測表面的三維形貌，測量精度高達 0.06um 甚至更高，廣泛用于平面光學元件高精度檢測。

摘要 SJ6000激光干涉儀產品具有測量精度高、測量速度快、高測速下分辨率高、測量范圍大等優點

摘要 CDW-3000S-DT激光平面干涉儀是一款新型的非接觸高精度無損光學表面測量設備

摘要 激光平面干涉儀用途：可廣泛用于工廠的計量室、光學車間和科研院所的實驗室

摘要 CDW-3000S-MO激光平面干涉儀是一款新型的非接觸高精度無損光學表面測量設備

摘要 產品描述： 在線詢價

摘要 南京SJ6000激光干涉儀,淮安SJ6000激光干涉儀,穩定性好。激光干涉儀是以光波為載體，以光波波長為單位的一種計量測試方法，是的高精度、高靈敏度的檢測手段，在制造領域應用廣泛。

摘要 產/品/介/紹DETAILEDDESCRIRTION 激光干涉儀以光波為載體，其光波波長可以直接對米進行定義，且可以溯源至國家標準，是迄今的高精度、高靈敏度的測量儀器，在制造領域應用廣泛。

摘要 德國SP激光干涉儀測量系統的三維角度器 - 同樣適用于直線度激光測量系統! (BG 840260) 該角度器內置可旋轉的3D棱鏡（180°的范圍內每次旋轉15°），德國SP激光干涉儀測量系統通過該角度器可非常便捷地進行2軸測量。

摘要 XD 激光干涉儀，能夠 一次安裝同時測量 數控直線軸的線性定位誤差(包括定位精度、重復定位精度、反向間隙)、直線度（XX 方向和YY 方向）等三個參數，測量效率相比傳統激光干涉儀提高三倍以上。該配置還可以通過選配件來測量兩個直線軸的垂直度、小角度精度等。

摘要 XD激光干涉儀1D激光主要可以測量定位誤差和重復定位精度3D激光可以測量定位誤差、直線度誤差（雙向）5D/6D激光可以測量定位誤差、直線度誤差（雙向）、偏擺角、俯仰角和滾動角在選擇無線遙控傳感器的情況下，最長的測量距離可到45米（80米可選）

摘要 -儀器介紹本款精密激光干涉儀可開展經典的邁克耳遜干涉，法布里-珀涉和泰曼-格林干涉實驗

摘要 SJ6000激光干涉儀產品具有測量精度高、測量速度快、高測速下分辨率高、測量范圍大等優點

摘要?APIXD激光干涉儀XDAPIXD激光干涉儀XD產品介紹XD激光干涉儀XD1D激光主要可以測量定位誤差和重復定位精度3D激光可以測量定位誤差、直線度誤差（雙向）5D/6D激光可以測量定位誤差、直線度誤差（雙向）、偏擺角、俯仰角和滾動角在選擇無線遙控傳感器的情況下，最...

摘要 API激光干涉儀儀器簡介：5D/6D激光干涉儀是API的產品，一次安裝能夠同時測量線性軸的六個誤差，包括1個位置度誤差、2個直線度誤差、3個角度誤差

摘要 API激光干涉儀儀器簡介：5D/6D激光干涉儀是API的產品，一次安裝能夠同時測量線性軸的六個誤差，包括1個位置度誤差、2個直線度誤差、3個角度誤差

摘要 廠商名稱產品名稱產品訂貨號貨期（周）產品價格中國激光干涉儀器A631740洽詢洽詢產品特點配置方式立式、臥式配置平面總成

摘要 原理：在激光干涉儀進行透射測量時，激光光源發出的單色光,垂直向下經過被檢元件上、下兩表面被標準反射鏡反射后會形成干涉條紋，每個點上所生的干涉條紋取決于該點上兩相干的光的光程差

摘要 光干涉透射法檢測元件厚度差的原理：在激光干涉儀進行透射測量時，激光光源發出的單色光,垂直向下經過被檢元件上、下兩表面被標準反射鏡反射后會形成干涉條紋，每個點上所生的干涉條紋取決于該點上兩相干的光的光程差

摘要 英國RenishawXL-80激光測量系統新型RenishawXL-80激光測量系統為坐標測量機和機床等運動系統提供高性能精度校準

摘要 Agilent5530雙頻激光干涉儀---以激光計量的國際標準驗證機床的性能※優化三坐標機和機床的性能※改善過程控制和降低成本※驗證機床的精度的技術特點：1

摘要 激光干涉儀

摘要 1.產品簡介　　激光干涉儀以光波為載體，其光波波長可以直接對米進行定義，且可以溯源至國家標準，是迄今的高精度、高靈敏度的測量儀器，在制造領域應用廣泛。

摘要 API XD激光干涉儀可以一次裝夾測量六個參數包括定位精度、重復定位精度、直線度及角度。用于數控機床和三座標測量機的標定及校準。通常時間需數天進行的測試，使用API激光干涉儀只需幾個小時即可完成。實際應用結果表明：可節省時間高達80%。

摘要 XL-80系統快速、精確，而且非常輕便，因此它成為銷量*好的激光校準系統絲毫不足為奇。XL-80采用*的軟件解決方案，具有優異的性能，可以幫助您顯著提高企業效益。