摘要 嚴格情況下，要求按照元件的使用狀態測量，例如很多窗口、反射鏡和半導體晶圓等。G400U和G300U的通光口徑分別為400mm和300mm。為鏡頭上置、光路向下的結構，適合對樣品的平放測量。

摘要大口徑激光干涉儀有效通光口徑有600mm, 450mm和300mm,均是雙路測量系統：一路是100mm （4英寸）或150mm（6英寸）小口徑測量系統，另一路是大口徑平面測量系統。小口徑系統可以進行平面元件和球面元件的測量。大口徑平面測量系統從100mm口徑擴束到60...

摘要 儀器簡介：ML10Gold高性能激光干涉儀是機床、三坐標測量機及其它定位裝置精度校準用的高性能儀器

摘要 動態、超精密,嵌入式測量，專業用戶的選擇.ZD-D1500是國內C9大學、北京合創智達光電科技有限公司聯合研發的新一代快速超精密激光干涉儀。

摘要 Chotest SJ6000激光干涉儀

摘要 XD激光干涉儀1D激光主要可以測量定位誤差和重復定位精度3D激光可以測量定位誤差、直線度誤差（雙向）5D/6D激光可以測量定位誤差、直線度誤差（雙向）、偏擺角、俯仰角和滾動角在選擇無線遙控傳感器的情況下，最長的測量距離可到45米（80米可選）

摘要 激光干涉儀技術規格書隨著光通訊行業的飛速發展，特別是通訊行業手機、平板等對成像質量要求的不斷提高，必須對手機面板攝像孔的光學玻璃的透射波前進行檢測和分析

摘要 產品介紹：美國ZYGO激光干涉儀DynaFiz 新型的ZYGO DynaFiz激光干涉儀是特別設計為在有空氣湍流和振動的環境中進行精確的光學計量的優化的光學儀器。DynaFiz 光學系統的長壽命，高功率氦氖激

摘要 產品介紹：美國ZYGO激光干涉儀GPI XP/D GPI? XP/D激光干涉儀--運用移相干涉原理，提供高精度的平面面形，球面面形，曲率半徑，樣品表面質量，傳輸波前的測量和分析。GPI XP/D是ZYGO在中國甚至

摘要 產品介紹：美國ZYGO激光干涉儀GPI XP/D GPI? XP/D激光干涉儀--運用移相干涉原理，提供高精度的平面面形，球面面形，曲率半徑，樣品表面質量，傳輸波前的測量和分析。GPI XP/D是ZYGO在中國甚至

摘要 產品介紹：菲索型激光干涉儀，具有的環形光源偽跡消除抑制技術，是一種高 精度、共光路面形計量干涉儀。ZYGO新一代激光干涉儀系列--VeriFire?激光干涉儀，繼承了工業標準GPI?激光干涉儀系

摘要 簡要描述：激光干涉儀手機面板攝像孔透射波前檢測

摘要 XD Laser激光干 涉儀是API公司的產品。-次安裝即可以測得6個參數，包括1個位置度誤差、2個直線度誤差和3個角度誤差。通常時間需數天進行的測試，使用AP|激光干涉儀只需幾個小時即可完成。實際應用結果表明:可節省時間高達80%。

摘要 儀器名稱：激光干涉儀品牌:雷尼紹型號：ML10Gold產地：英國儀器介紹：1.ML10Gold高性能激光干涉儀是機床、三坐標測量機及其它定位裝置精度校準用的高性能儀器

摘要激光干涉儀以光波為載體，其光波波長可以直接對米進行定義，且可以溯源至國家標準，是迄今*的高精度、高靈敏度的測量儀器，在制造領域應用廣泛。　　SJ6000激光干涉儀集光、機、電、計算機等技術于一體，產品采用進口高性能氦氖激光器，其壽命可達50000小時；采用激光雙縱模熱...

摘要 產品參數：XL80高性能鐳射干涉儀是機床、三次元坐標量床及其它定位裝置精度校準用的高性能儀器,由于電子技術的應用,使其鐳射波長非常穩定并保持了低成本高效率的工作流程

摘要 雙光束激光干涉儀專門用于壓電薄膜的蝴蝶曲線和縱向壓電系數d33的測試。適合于從小尺寸薄膜到8英寸晶圓表征的雙光束激光干涉儀。半自動的系統用于8"晶圓上的MEMS器件的壓電性和電性相關性能的測試。大量樣品測試的重復精度可達2%以上。

摘要 產品技術指標Hi-Smarc-Ⅲ-PO激光干涉儀主要功能：測量平面光學元件的表面面形和透射光學元件的綜合波前a)類型：菲索干涉原理b)口徑：φ25.4mmc)顯示方式：CCD+顯示器d)光源：半導體激光

摘要 【產品名稱】：英國雷尼紹XL-80激光干涉儀【產品規格】：英國雷尼紹XL-80激光干涉儀【詳細內容】XL-80主要優點雷尼紹設計、制造和提供激光系統已有近二十年的歷史

摘要 立式接觸式干涉儀是一種采用量塊或標準零件借以高精度的比較方式的立式精密長度計量儀器。主要用于150mm以下塊規，亦可用作高精密度的長度和外徑的精密測量，是各級計量室的基本長度計量儀器之一。

摘要 立式接觸式干涉儀JDS-1是一種采用量塊或標準零件借以高精度的比較方式的立式精密長度計量儀器。主要用于150mm以下塊規，亦可用作高精密度的長度和外徑的精密測量，是各級計量室的基本長度計量儀器之一。

摘要 1、PG15-J型激光平面干涉儀工作基于雙光束等厚干涉原理。2、根據近代光學的研究結果，光兼有波動與微粒兩重特性。光的干涉現象是光的波動性的特性。

摘要 主要用于平面類光學元件檢定和校準光學平晶（包括玻璃、金屬、陶瓷等），配備高精度的成像系統和圖像采集系統，精密平面標準鏡等一系列高精技術，通過優化光學系統和機械系統結構，可實現高精密平面光學元件的測量。…

摘要 產品型號：MT21產品名稱：MT21無線球桿儀通信方式：藍牙傳輸（典型值10m）供電方式：鋰電池分辨率：0

摘要 產品型號：SJ6000產品名稱：SJ6000激光干涉儀測量方式：單頻穩頻精度：0

摘要 白光干涉儀產品用途結合光學顯微鏡與白光干涉儀功能的掃描式白光干涉顯微鏡，結合顯微鏡與干涉儀，不需要復雜光路調整程序，兼顧體積小、納米分辨力、易學易用等優點，可提供垂直掃描高度達400um的微三維測量，適合各種材料與微組件表面特征和微尺寸檢測

摘要 光纖端面檢測干涉儀VFI-200是一種干涉檢測系統,用于檢查切割或拋光光纖的表面質量和平整度

摘要 激光干涉比長儀型號:CIMM-BCY-1000 金洋萬達產品介紹：激光干涉比長儀是一種采用光電顯微鏡作為瞄準標尺，激光干涉儀作為測量標尺對線紋尺進行測量校準的儀器，其具有精度高、重復性好等特點

摘要 LP-WMG-1邁克爾遜干涉儀主要用于觀察光的各種干涉現象并驗證相關基礎理論，配套法布里-保涉裝置還可觀察多光束干涉銳環，測量相鄰光譜線間的波長差等，是邁克爾遜干涉實驗設備

摘要 WSM100/200邁克爾遜干涉儀 產品簡介：觀察光的干涉現象（等厚條紋、等傾條紋、白光彩色條紋），測定單色光波長，測定光源和濾光片相干長度、配法布里─珀羅系統觀察多光束干涉現象

摘要 邁克爾遜干涉儀價格型號:WMG-I 金洋萬達儀器介紹：WMG-I邁克爾遜干涉儀是我公司自主研發的一套實驗儀器，通過借鑒傳統干涉儀的經典設計，并結合全新的平臺式結構精心設計而成的

摘要 激光干涉儀SJ6000

摘要 美國Artium 激光相位多普勒干涉儀LDV，PDI，PDPA，PDA

摘要激光干涉比長儀是一種采用光電顯微鏡作為瞄準標尺，激光干涉儀作為測量標尺對線紋尺進行測量校準的儀器，其具有測量精度高、重復性好的特點。該比長 儀能夠同時實現玻璃線紋尺和金屬線紋尺的檢測和校準，并能夠直接溯源到激 光波長。該儀器配有自動化數據采集系統，具有實時氣壓、濕度補...

摘要 Layertec提供不同類型的高質量干涉儀標準鏡，該干涉儀標準鏡的基底材料可以選擇高質量熔融石英，釔鋁石榴石，紅外硅中的一種，Layertec干涉儀標準鏡通過其出色的飛秒激光基底材料提純技術，可以有效且高質量地做到超快激光標準鏡高純度調節激光光束性質。

摘要THz F-P干涉儀結構由2片高平行度高精度的HRFZ-Si窗鏡組成，窗片的直徑可定制選擇（25.4~150mm），通過對窗片的移動從而測量THz波的參數。一套完整的THz F-P干涉儀包括TFPE干涉儀單元，供電和控制單元，鏡片位移控制軟件，連接線和說明書。THz ...

摘要隨著光通訊行業的飛速發展，特別是通訊行業手機、平板等對成像質量要求的不斷提高，必須對手機面板攝像孔的光學玻璃的透射波前進行檢測和分析。 光學玻璃的透射波前是指一個標準的波形（平面波、球面波等）被透射或反射后的波形，它主要用于光學成像的像質評價。隨著透射光學系統（如...

摘要 MT21無線球桿儀

摘要 SJ6000激光干涉儀

摘要 簡要描述： Brass-3000隱形眼鏡半成品測試儀是Brass-2000的升級版，在硬件升級的同時，其軟件也具備了更加強大的地形圖分析功能。

摘要 簡要描述： Brass-2000*半成品測量儀是*加工中*的干涉儀，無論是加工過程中的半成品還是模具，其都能測量和監控表面情況，掌握的數據將決定Z終的成品質量和效率。

摘要 簡要描述： Brass-IOLA*半成品測量儀于測量*半成品的曲率半徑和分析其表面質量。也可用于車床對刀。

摘要 RGH24B03L00AA-5625-2001

摘要 PG15-J激光平面干涉儀產品簡介：1、PG15-J型激光平面干涉儀工作基于雙光束等厚干涉原理。2、根據近代光學的研究結果，光兼有波動與微粒兩重特性。光的干涉現象是光的波動性的特性。

摘要 顯微鏡特點：立式接觸式干涉儀JDS-1是一種采用量塊或標準零件借以高精度的比較方式的立式精密長度計量儀器。主要用于150mm以下塊規，亦可用作高精密度的長度和外徑的精密測量，是各級計量室的基本長度計量儀器之一。